GD32 IIC接口测试

一，测试环境

软件平台：GD32E232K-START V1.0 开发板，CP2112，GD32E232_Demo、
GD32E232_Firmware_Library_V1.0.1、IIC Interface、MDK-ARM Plus Version:5.25.2.0。

硬件平台：SDS1104CFL 示波器、FLUKE 17B+万用表、GPD-2303S 直流电源、HAK0191 温度测试仪。

所载MCU为GD32E232K8Q7，MCU是有内部参考电压的，配置为2.5V电压，经测试也可以输出到PIN脚。GD32E232K8Q7可提供16个外部模拟输入通道，1个内部温度传感通VSENSE，1 个内部参考电压输入通道VREFINT；最大12 位分辨率，支持DMA，无需CPU干预。

二，从I2C 测试

GD32E232K8Q7可以支持多I2C地址，测试时从地址设定为0xA0、0xA2，0xB0、0xB2，上拉电阻为4.7K。分别测试了在 100K、200K、400K速率下的波形和数据。I2C速率设置是通过CP2112芯片完成，测试是通过SD测试板飞线到GD32E232K开发板。

1,100k 速率测试
100k 速率下单字节读 A0 的 0x10 寄存器的波形，见下图左边，数据为 0x11；100k 速率下双字节读 A0 的 0x10-0x11 寄存器的波形，数据为 0x11，0x12，见下图右边。

100k速率下四字节读A0的0x10-0x13寄存器的波