最近两天在思考相控阵噪声系数的问题，困惑来源于两方面：
其一是测试，通常噪声分析仪只有两个端口，那么对于多接收通道输入合成单通道输出的组件，要怎么测试噪声系数呢？
其二是指标分配，有了系统指标比如说噪声系数指标，链路的增益分配应该如何计算？
对于第一个问题的回答，有幸翻到了蒙国站老师的文章1，感觉方法做的很漂亮，特此学习记录。
首先把多端口网络等效成双端口网络，从噪声系数的定义（1）式开始。
N
F
m
=
S
i
/
N
i
S
o
/
N
o
（
1
）
N F_{m}=\frac{S_{i} / N_{i}}{S_{o} / N_{o}} （1）
NFm=So/NoSi/Ni（1）
输入的信号总功率为
S
i
=
n
⋅
P
0
S_{i}=n \cdot P_{0}
Si=n⋅P0
输入的噪声总功率为 N i = n ⋅ k T 0 B N_{i}=n \cdot k T_{0} B Ni=n⋅kT0B
输出的信号总功率为 S o = P 0 ⋅ ∑ i G i S_{o}=P_{0} \cdot \sum_{i} G_{i} So=P0⋅∑iGi此处的Gi代表第i路的增益，当n路增益相同时有 S 0 = n ⋅ P 0 ⋅ G S_{0}=n \cdot P_{0} \cdot G S0=n⋅P0⋅G。
输出的噪声总功率为 N o = k T 0 B ⋅ ∑ i G i + k T e B ⋅ ∑ i G i N_{o}=k T_{0} B \cdot \sum_{i} G_{i}+k T_{e} B \cdot \sum_{i} G_{i} No=kT0B⋅∑iGi+kTeB⋅∑iGi其中Te代表单支路引入的等效噪声温度，在这里假定所有的支路的等效噪声温度都相同。分别代入（1）式，可以得到系统的噪声系数。
N F m = k T 0 B ⋅ ∑ i G i + k T e B ⋅ ∑ i G i k T 0 B ⋅ ∑ i G i = 1 + T e T 0 （ 2 ） N F_{m}=\frac{k T_{0} B \cdot \sum_{i} G_{i}+k T_{e} B \cdot \sum_{i} G_{i}}{k T_{0} B \cdot \sum_{i} G_{i}}=1+\frac{T_{e}}{T_{0}}（2） NFm=kT0B⋅∑iGikT0B⋅∑iGi+kTeB⋅∑iGi=1+T0Te（2）
到此，我们得到了系统的噪声系数。
对于实际测试的情况，只有一个输入端口接噪声分析仪的噪声头，输出端口接噪声分析仪，而其余输入端口则接负载。假设第j路接噪声分析仪。测得的NFj依然从噪声系数的定义开始推导。此时多端口已经不用等效，变成切切实实的双端口，输入不再用n倍。
S i = P 0 S_{i}= P_{0} Si=P0， N i = k T 0 B N_{i}=k T_{0} B Ni=kT0B， S o = P 0 ⋅ G j S_{o}=P_{0} \cdot G_{j} So=P0⋅Gj， N o = k T 0 B ⋅ ∑ i G i + k T e B ⋅ ∑ i G i N_{o}=k T_{0} B \cdot \sum_{i} G_{i}+k T_{e} B \cdot \sum_{i} G_{i} No=kT0B⋅∑iGi+kTeB⋅∑iGi
代入（1）式能够得到下式（3）
N
F
j
=
k
T
0
B
⋅
∑
i
G
i
+
k
T
e
B
⋅
∑
i
G
i
k
T
0
B
⋅
G
j
=
∑
i
G
i
G
i
(
1
+
T
e
T
0
)
（
3
）
N F_{j}=\frac{k T_{0} B \cdot \sum_{i} G_{i}+k T_{e} B \cdot \sum_{i} G_{i}}{k T_{0} B \cdot G_{j}}=\frac{\sum_{i} G_{i}}{G_{i}}\left(1+\frac{T_{e}}{T_{0}}\right)（3）
NFj=kT0B⋅GjkT0B⋅∑iGi+kTeB⋅∑iGi=Gi∑iGi(1+T0Te)（3）
对比（2）和（3）式，就可以得到二者的关系。从而由测试得到的NFj，反推得到NFm。
注意这里的还都是比值，还没有转化成分贝。
N
F
m
=
G
i
∑
i
G
i
N
F
j
（
4
）
N F_{m}=\frac{G_{i}}{\sum_{i} G_{i}} N F_{j}（4）
NFm=∑iGiGiNFj（4）
文章1中表1和表2提供的数据对这个方法进行了验证，获得了不错的结果。
但我觉得这个方法有两处需要澄清和修正。
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