介电常数和电容的关系_3.LCR测试仪——MLCC的电容测量方法

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多层陶瓷电容器(MLCC)的电容测量

多层陶瓷电容器(MLCC)分为1.高介电常数型(电容值根据测量电压的变化而变化)2.温度补偿型(电容值不会随两端电压变化而变化)。电容时的测量条件分别按照高介电常数型和温度补偿性的JIS标准(Japanese Industrial Standards)来规定。

测量条件的设置举例：

参数	大容量的被测物为Cs-D，小容量的被测物为Cp-D
频率	请参考下表
直流偏压	OFF
信号电平	额定电压以下
测量量程	AUTO
速度	SLOW2
LowZ模式	OFF

JIS C5101-21用于表面贴装的陶瓷电容器种类1 温度补偿型(CH、C0G等)(IEC30384-21)：注意容量和频率的对应关系！

参数	额定静电容量	额定电压	测试频率	测试电压※1	直流偏压
C，D(tan δ)	C≤1000pF	全部	1MHz或100kHz (标准1MHz)	5Vrms以下	无
	C>1000pF		1kHz或100kHz (标准1kHz)

JIS C5101-22用于表面贴装的陶瓷电容器种类2 高介电常数型(B、X5R等)(IEC30384-22)：注意容量和频率的对应关系！

参数	额定静电容量	额定电压	测试频率	测试电压※1	直流偏压
C，D(tan δ)	C≤1000pF	全部	1MHz	1.0±0.2Vrms	无
	1000pF	超过6.3V	1KHz	1.0±0.2Vrms
		6.3V以下	1KHz	0.5±0.2Vrms
	C>10uF	全部	100Hz或120Hz	0.5±0.2Vrms

※1 测试电压(=外加在测试样品上的电压)是通过输出电阻和测试样品对开路端子电压进行分压的电压。
※2测试电压(=外加在测试样品上的电压)可以通过开路端子电压、输出电阻、测试样品的阻抗进行计算。
※3 测试样品的阻抗不确定时或测量偏差较大的多个测试样品时使用CV模式更方便。

关于高介电常数型的电容

温度特性表示为B、X5R、X7R等的电容中使用了介电常数较高的材料。高介电常数型的电阻虽能够实现小型大容量，但具有容量根据测试电压和温度变化较大的特点。

参数(Cs和Cp)的确定方法：

各频率下的阻抗的大致标准(D较小时，D为电容的损耗因子，可自行百度)

以上ESR的大小可以作为日常使用时的一个经验值来参考。

大容量的电容 ：因为C的阻抗较低，所以可以忽略Rp。设为 串联等效电路 。 小容量的电容 ：因为C的阻抗较高，所以可以忽略Rs。设为 并联等效电路 。 一般来说(上一小节已经说明)，测量如大容量电容这类低阻抗元件(约100Ω以下)时，使用串联等效电路模式，测量如小容量电容这类高阻抗元件(约10kΩ以上)时，使用并联等效电路模式。约100Ω～10kΩ的阻抗时，等效电路模式不确定，可与元器件的制造商进行确认。

实际的电容如图所示串联的Rs、并联的Rp连接到理想电容C进行工作。通常Rp会非常大(MΩ以上)，Rs会非常小(几Ω以下)。理想电容的电抗可以通过电容和频率，按照Xc＝1/(j2πfC) [Ω]来计算。Xc较小时，Rp和C并联的阻抗≈Xc。另一方面，Xc较小的话，则不能忽略Rs，因此整体上可以视作Xc和Rs的串联等效电路。Xc较大时则相反，不能忽略Rp，但可以忽略Rs，这样就变成了并联等效电路。

电容的等效电路( 不考虑串联的ESL ) 开路电压(OV)模式和恒压(CV)模式的区别

开路电压是指测试样品没有进行连接时Hc端子产生的电压。将开路电压用输出电阻和测试样品分压后的电压外加在测试样品上。

目前市场上的LCR：恒压(CV)模式下设置测试样品两端的电压，部分可以实现在硬件(模拟电路)上设置CV，故高速进行恒压测量；开路电压(V)模式，因为输出电阻较小(1kHz的2.2uF量程以上为1Ω，除此以外的条件下为20Ω)，故具备开路端子电压≈测试电压的测试样品的阻抗低的特点。

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