LCR测试仪测量电子元件的4种方法

文章介绍了LCR测试仪在测量电感、电容、电阻等电子元件参数时的关键问题——测量误差,以及如何通过校准和选择合适的测量电路模型来减少误差。详细讨论了不同连接方法,包括2端子法、3端子法、4端子法和6端子法,以适应不同的精度需求和元件特性。
摘要由CSDN通过智能技术生成

当今电子元件的设计追求高性能, 而同时又致力于减少尺寸、 功耗和成本。 有效而准确的元件性能描述、设计、评估和制造过程中的测试,对于元件用户和生产厂家是至关重要的。

  电感、电容、电阻是电子线路中使用广泛的电子器件,在进行电子设计的基础上, 准确地测量这些器件的值是极其重要的。LCR表是一种采用交流方式测量电感、电容、电阻、阻抗等无源元件参数的装置。用LCR测试仪测量元器件的参数时,其关键问题是测量误差。它的误差来源主要有两部分,首先是LCR测试仪本身的内部误差,其次是由不正确校准、测试件的连接方法及不正确选择测量电路模型引起的。一般连接方法越麻烦越能准确地测量出元器件的参数。

  1、LCR测试仪校准

  首先对测试仪进行开路校准, 开路校准主要是消除测试夹具与被测件相并联的杂散导纳。 其次是进行短路校准, 通过一短路条(用低阻抗的金属板)将高、 低电极相连。 短路校准主要是消除测试夹具与被测件相串联的残余阻抗的影响。

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