为何ADC采样点在飘?

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有人使用STM32F103系列想实现如下需求,碰到些许配置困难。【因没说完整型号,这里假定为STMF103R8来聊。其实,对于下面话题,它是什么型号已经不重要了,后面话题重点跟芯片型号基本无关。】

现在欲配置一个ADC采样,配置Timer1通道1,2,3输出三路PWM,同时想用Timer3的TRGO通道触发ADC,要求ADC在三路PWM输出高电平中间点采样【即下图红色箭头所指位置】。目前已经知道配置方式是Timer1配置成中央对齐方式,然后ADC使能外部触发,为了观察是否在高电平中间点采样,在ADC中断做了一个IO口翻转操作,现在观察PWM和IO口波形,发现IO口翻转还是在PWM高电平上升沿时出现,那么 该怎么配置呢?

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要实现上面PWM输出,我们可以考虑STM32芯片内的高级定时器【TIM1或TIM8】,并让更新事件发生在上面箭头所指位置,同时将该更新事件作为ADC的触发启动信号那就最方便了。

这样是否可行,我们还得具体看看硬件资源上是否支持。

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ADC(Analog-to-Digital Converter)是一种将模拟信号转换为数字信号的电路或器件,常用于将传感器采集的模拟信号转换为数字信号进行处理和存储。其转换过程包括采样、保持、量化和编码四个步骤: 1. 采样:将模拟信号按照一定时间间隔进行抽样,得到一系列离散的采样值。 2. 保持:在采样后,将采样值保持在保持电路中,以便于后续的量化和编码。 3. 量化:将保持的采样值转换为数字信号。量化的过程实际上是将连续的模拟信号转换为离散的数字信号。通常采用的量化方法是将模拟信号分成若干个等宽的区间,将每个区间的采样值转换为对应的数字编码。 4. 编码:将量化后的数字信号按照一定编码规则转换成二进制数,并输出为数字信号。 根据转换精度、速率和功耗等因素的不同,ADC可以分为多种不同类型,其中比较常见的有以下几种: 1. 逐次逼近型ADC(Successive Approximation ADC):转换速度较快,功耗较低,适用于大多数应用场景。 2. 逐渐逼近型ADC(Ramp ADC):转换速度较慢,但精度较高,适用于需要较高精度的应用场景。 3. 闪存型ADC(Flash ADC):转换速度极快,但功耗较高,精度一般,适用于高速数据采集和处理。 4. Delta-Sigma型ADC:精度较高,但转换速度较慢,适用于需要高精度和低噪声的应用场景。 ADC的典型参数包括分辨率、转换速率和采样速率: 1. 分辨率:是指ADC可以将模拟信号转换为多少位的二进制数字。例如,12位ADC可以将模拟信号转换为2^12=4096个数字。 2. 转换速率:是指ADC每秒钟能够进行多少次转换操作,通常以每秒样本数(SPS)或每秒转换次数(CPS)来表示。例如,100kSPS的ADC每秒钟可以进行10万次转换操作。 3. 采样速率:是指ADC采样信号的速率,通常以每秒钟采样次数(SSPS)来表示。例如,10kSSPS的ADC每秒钟可以采样10kHz的信号。 以上是ADC的基本原理、分类和典型参数的介绍。对于具体的应用场景,需要根据要求选择合适的ADC类型和参数。

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