TMAX report_summaries解释

原创于 2025-11-24 17:07:48 发布 · 9 阅读

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#芯片设计

以下是该 Transition Fault Summary Report 的逐项解读，包含故障分类定义、覆盖率计算逻辑及优化建议：

1. 故障分类详解

故障分类	代码	数量	含义
Detected (DT)	DT	4,422	被测试向量明确检测到的跳变故障（Slow-to-Rise/Slow-to-Fall）。
Possibly Detected (PT)	PT	0	工具无法确定是否被检测（通常因时序模糊或观测点不足）。
Undetectable (UD)	UD	43	设计上无法检测的故障（如冗余逻辑、未驱动的信号）。
ATPG Untestable (AU)	AU	2,653	受限于当前测试配置（如扫描链约束、时钟域限制）而无法测试的故障。
Not Detected (ND)	ND	2,958	未被任何测试向量覆盖的可测故障（需优化测试生成）。

2. 关键指标解析

(1) Test Coverage（测试覆盖率）

4422 /（10076 - 43}）= 44.07%
其中各项总和为10076

意义：测试向量实际覆盖的 理论上可测故障 比例。

(2) Fault Coverage（故障覆盖率）

4422 / 10076 = 43.89%

意义：测试向量覆盖的 所有故障 比例（含不可测故障）。

差异说明：

两者差异来源于 Undetectable (UD) 故障（43个）。
行业通常以 Test Coverage 为主要评估指标（忽略设计固有的不可测故障）。

3. 结果分析及优化建议

(1) 当前问题

覆盖率低（仅44.07%）：远低于行业典型目标（>95% Transition故障覆盖率）。
主要瓶颈：
- ND（Not Detected）故障（2,958个）：测试向量未覆盖。
- AU（ATPG Untestable）故障（2,653个）：测试模式受限。

(2) 根因排查

故障类型	可能原因	验证方法
ND	时序约束不足、测试激励不够丰富	检查SDC约束是否覆盖所有工作频率/工况
AU	扫描链断裂、测试控制信号缺失（如Scan Enable）、OCC配置错误	`report_scan_chains` 检查扫描链完整性
UD	设计冗余、未连接的逻辑	查看RTL代码中未驱动的信号

(3) 优化措施

👉 针对 ND 故障

增加测试模式：

add_atpg_patterns -target_faults ND -incremental

放松时序约束：

set_atpg_constraints -clock_period 1.2ns  # 降低时钟频率（临时允许更慢跳变）

👉 针对 AU 故障

修复扫描链：可能需要更高软件版本
```
repair_scan_chains -fix_broken_chains
```

验证时钟控制：可能需要更高软件版本

report_occ_configuration  # 检查OCC是否在所有测试模式激活

👉 全局优化

启用更智能的算法：可能需要更高软件版本

run_atpg -algorithm path_sensitive  # 优先处理关键路径

检查故障列表准确性：可能需要更高软件版本
```
report_faults -suspect  # 列出可能分类错误的故障
```

4. 行业参考标准

Stuck-at故障：通常要求 >99% 覆盖率
Transition故障：通常要求 >95% 覆盖率
Path Delay故障：通常要求 >90%（关键路径需100%）
IDDQ 故障：通常要求 >85%（车规一般需70%即可满足AEC-Q100）

若结果持续不达标，需检查：
✅ 设计本身的测试性（DFT插入是否完整）
✅ ATPG工具版本和许可证（部分高级功能需额外授权）
✅ 物理设计约束（如布局布线后的时序闭合情况）

5. 详细数据透视（示例）

进一步分析 ND 和 AU 的分布：

# 生成未检测故障的详细列表
write_faults -not_detected -out nd_faults.rpt
write_faults -atpg_untestable -out au_faults.rpt

# 按模块统计故障分布（Tcl脚本示例）
set nd_count [exec grep "ND" nd_faults.rpt | wc -l]
set au_count [exec grep "AU" au_faults.rpt | wc -l]
puts "ND faults in moduleA: $nd_count\nAU faults in moduleB: $au_count"