选择在共享模式中运行时使用的采样频率和位深度_ADC和DAC芯片使用FPGA调试总结...

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AD和DA调试总结

一、ADC芯片调试

      1.ADC芯片功能理解

    ADC，模数转换器，功能是把模拟电压转换成数字量，把要测的电压那根线，连接到ADC的用来测电压的引脚上，ADC模块就会检测到这个电压，并且自动的转换成一个数字，我们读出这个数字，就知道这个数字和电压的对应关系。每个独立的ADC芯片都有一个分辨率指标，一般分辨率有8位，10位，12位，16位，24位等。8位分辨率的最大值就是255，范围是0~255，那么16位就是65536，范围就是0~65535。

    用俩款芯片进行举例：AD9467和AD9640。

      ADC9467:

    是一款16位的采样率在250MSPS，芯片结构图如下。VIN+/VIN-是模拟的输入，clk+/clk-是对模拟信号进行采样的时钟。D15+/D15-~D0+/D0-为转换出来的数据，DCO+/DCO-为转换后根据数据出来的时钟信号。

芯片根据电压的转换进行模拟到数字的转换。下图中一个DCO时钟周期采样得到16位有效数据，在芯片手册中可以读到从AD9467被锁定的数据信号必须在DCO的上升沿和下降沿双倍速率的抓取。参看Figure2图中所画。

根据上图我们在FPGA程序中将一组数据引脚 利用IBUFDS原语将数据进行差分转单端，在利用IDDR将单端信号打成双倍数据的结果分发下去，例如引脚0的被分到位号0和8，引脚1被分到位号1和9。但实际0引脚位号应被分到0和1，则在外层模块 再将数据位置颠倒过来。将8对引脚都按下述代码转换。

将DCO的时钟信号进行下述代码处理。进来的DCO差分信号先利用IBUFGDS进行差分转单端，随后进行