[SystemVerilog]覆盖率——衡量IC验证完成程度

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[SystemVerilog]覆盖率——衡量IC验证完成程度

1- 前言

​ 在芯片验证过程中,已经为DUT设计了很多TC,经过了多次回归,回归中出现的Bug都一一修复。 但我们的验证程度究竟到达了什么样的程度,是否需要继续进行,又该怎样进行,是否有量化的标准指导验证工作接下来的方向?接下来就系统的介绍一下覆盖率——衡量IC验证完成程度。

2- 覆盖率类型

覆盖率通常分为以下3种:

代码覆盖率,功能覆盖率,断言覆盖率;其中前两项必须关注。

2.1- 代码覆盖率

代码覆盖率包括 Line, Toggle, FSM, Condition, Branch覆盖率。

2.1.1- Line(行覆盖率)

定义:表示多少行代码已经被执行过;

line

分析:

  1. Block: 表示代码块,包含在语句块间(eg begin…end);
  2. Statement:表示非Block代码;
  3. Statement Coverage 不全等于 Line Coverage;

line2 line1

2.1.2- Toggle(翻转覆盖率)

定义:表示对应bit是否完成了 0→1 和1→0的翻转;

### 版图DRC设计规则检查验证覆盖率的方法与工具 #### 背景概述 在集成电路设计流程中,物理验证是一个至关重要的环节,它确保了物理设计符合制造工艺的要求。其中,DRC(Design Rule Check)作为物理验证的一部分,用于确认版图设计遵循特定的技术节点所规定的几何约束条件[^2]。 #### DRC验证覆盖率的重要性 提高DRC验证覆盖率意味着更全面地捕捉潜在的设计违规项,从而减少流片失败的风险并提升产品质量。低覆盖可能导致未被检测到的关键缺陷进入生产阶段,造成高昂的成本损失和时间延误。 #### 提高DRC验证覆盖率的方法 ##### 使用先进的DRC引擎和技术 现代EDA工具通常配备高性能的DRC引擎,这些引擎能够快速而精确地执行复杂的规则集。通过采用最新的算法改进,比如扫描线法可以有效简化大规模几何运算过程,进而增强效率和准确性[^3]。 ##### 定制化规则库管理 针对不同项目需求定制专属的DRC规则文件至关重要。这不仅涉及标准CMOS技术下的常规参数设定,还包括特殊层定义以及客户特有的工艺要求。定期更新和完善内部维护的规则数据库有助于保持最佳实践状态,并适应不断变化的标准环境。 ##### 自动化回归测试框架构建 建立一套完善的自动化测试机制可以帮助持续监控新旧版本间的变化趋势,及时识别可能影响现有合规性的修改动作。此方法特别适用于长期迭代开发场景下维持稳定可靠的DRC性能表现。 ##### 数据分析驱动优化策略制定 通过对过往历史记录进行深入挖掘分析,找出容易出现问题的重点区域或薄弱环节;据此调整优先级顺序安排资源投入重点突破难点问题领域,最终达到全局最优解的效果。 #### 工具支持 目前市场上主流的EDA供应商均提供了强大的DRC功能模块,例如Mentor Graphics Calibre, Synopsys IC Validator 和 Cadence PEGASUS等产品,在各自擅长方面各有千秋: - **Calibre**: 广泛应用于全球各大半导体公司,以其高度灵活可配置性强著称; - **IC Validator**: 整合于Synopsys Design Compiler Gold综合平台内,提供无缝衔接体验; - **PEGASUS**: 支持多CPU/GPU加速模式加快运行速度的同时保证结果的一致性和稳定性。 选择合适的工具取决于具体应用场景和个人偏好等因素考量。 ```bash # 示例命令行调用Calibre进行DRC检查 calibre -drc runset_file.drc design.gds output.log ```
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