【光耦 Normalized...和 CTR 测试条件及测试曲线 解读 : PC817和LTV-1007-TP1-G】

小白一枚,简单介绍光耦的测试图形中的含义。参考文献写的很好,有借鉴作用。https://blog.csdn.net/zyboy2000/article/details/7853349

光耦副边可以与三极管特性比较,测试条件Ta=25°C,IF=5mA,VCE=5V,这个测试条件指定是工作在三极管放大区,若三极管工作在饱和区,VCE<0.7V。
三极管特性曲线

一:PC817

1)CTR : min,与环境温度(Ambient temperature)有关。

CTR:min 受环境温度影响,在125°左右可以降到最低值,即50%。从下图Fig7中可以看到。

Relative是指以Ta=25°C,IF=5mA,VCE=5V的测试条件为基准,做归一化。可以看到,在Ta=25°C时,Relative current transfer ratio = 100%。
CTR  vs  forward current

二:LTV-1007-TP1-G
这个光耦是工作中用到的,所以在PC817的基础上重新介绍一下。

这个图也是做归一化处理,当时都弄懵了。没有给CTR曲线,给的是Normalized CTR曲线。

CTR曲线只能看这个图,在IF=5mA,VCE=5V时,IC大概等于9mA。

深入分析,点超链接

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