IC ATE集成电路测试学习——OS测试

OS 测试（Open short Test），故名思意是用来测试电路的Open和Short的。
在芯片的制造过程中，可能会因为某些因素导致缺陷，而Open-Short Test 就是用以确认在器件测试时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接，并且没有信号引脚与其他信号引脚、电源或地发生短路。

ATE Force I原理

这里，先给大家介绍下ATE测试机 Force I 的原理，我们都知道，通路才会产生电流。而对于测试机而言，当设置一个电流时，如果没有达到预设值的电流，就会通过产生增大电压源源不断的施加电流，直到达到预设值的电路值。
假设设置ATE的电流为5mA，那么当电阻设置分别设置为1k和10k时，测试机会分别Force 5V和50V的电压来保持电流是5mA。

钳位Clamp
前面说到，如果通道是open的，那么测试机检测不到电流达到设定的值，就会认为负载很大，那么就会源源不断的增大电压，这样的高电压无疑对芯片是有损害的，有可能会打坏引脚。所以我们会设置钳位电压/电流，也就是程序中我们设置的允许达到的最大电压。假如电路open，测试机ForceI时不断增大电压，测试机会自动钳住电压，这样也不会打坏引脚啦。

保护二极管

通常来说，芯片的引脚通常会连接保护二极管，防止电压过大打坏芯片内部电路。如下图所示：

为什么要加上保护二极管呢？在实际应用中，假如芯片的引脚突然接触到高压，此时对电源的保护二极管就会导通，此时多余的电会流向VDD。而假如突然接触到负电压，那么多余的电流会流向地，这样，无论是高压还是负压，都不会有大量的电流流入芯片内部导致芯片损坏。
OS测试也主要根据保护二极管的压降来判断接触性能的。

OS测试

上面说到过，ATEForce I时，当检测不到设定电压时就会持续增大电压。当我们对芯片的引脚施加-100uA的电时，最开始由于二极管不导通，所以ATE会增加电压。当增大到二极管的导通电压时，二极管导通，电路流过二极管。此时，我们就能测到**约0.5V（硅）**的二极管导通电压了。

如果引脚和ATE没有接触好，那么此时引脚open，测到的就是clamp电压了。

下图是笔者用仿真软件模拟的OS测试图，Load模拟芯片pins，电流源模拟ATE提供电流，大家可以参考下，这样应该会比较直观。

笔者刚入行不久，此笔记仅作为自己记录和分享，大家有什么意见欢迎提出，我一定及时更改，谢谢！