目录
2.1 Fixed, low dissipation film resistors
2.2 Hot molded carbon composition, fixed resistors
2.3 Fixed, high dissipation film resistors
2.4 Low dissipation wirewound resistors
2.5 High dissipation wirewound resistors
2.6 Fixed, low dissipation surface mounting resistors and resistive array
3.1 Non wirewound cermet potentiometer
概要
IEC TR 62380《电子组件、PCBs和设备的可靠性预计通用模型》是涵盖电路、半导体分立器件、光电组件、电阻器、电容器、压电组件、显示器、开关等等电子元器件的可靠性预计模型，模型中包含了环境系数以及材料、工艺和结构等因素相关的系数。本文介绍IEC TR 62380第十一章电阻和电位器的失效率预测模型。
1 电容器和热敏电阻器的分类
在IEC TR 62380中电阻分为以下几类：
- Fixed, low dissipation film resistors
- Hot molded carbon composition, fixed resistors
- Fixed, high dissipation film resistors
- Low dissipation wirewound resistors
- High dissipation wirewound resistors
- Fixed, low dissipation surface mounting resistors and resistive array
电位器只有一种类型：
- Non wirewound cermet potentiometer (one or several turn)
2 电阻失效率的计算
2.1 Fixed, low dissipation film resistors
Fixed, low dissipation film resistors失效率的预测模型：
2.1.1 温度De-rating系数
根据πt的计算计算模型，带入环境温度、运行功率、额定功率，即可计算得出πt的值：
环境温度tA需要根据元器件使用的任务剖面计算平均环境温度，具体温度De-rating系数的计算可以参考：
ISO 26262中的失效率计算：Mission profile的使用
2.1.2 温度循环De-rating系数
根据工作循环次数，选择πn的计算计算模型，即可计算得出πn的值：
温度循环De-rating系数的计算参考：
ISO 26262中的失效率计算：Mission profile的使用
2.2 Hot molded carbon composition, fixed resistors
Hot molded carbon composition, fixed resistors失效率的预测模型：
2.2.1 温度De-rating系数
根据πt的计算计算模型，带入环境温度、运行功率、额定功率，即可计算得出πt的值：
其中：需要根据元器件的最大额定温度选择不同的电阻温度tR的计算模型；
环境温度tA需要根据元器件使用的任务剖面计算平均环境温度，具体温度De-rating系数的计算可以参考：
ISO 26262中的失效率计算：Mission profile的使用
2.2.2 温度循环De-rating系数
根据工作循环次数，选择πn的计算计算模型，即可计算得出πn的值：
温度循环De-rating系数的计算参考：
ISO 26262中的失效率计算：Mission profile的使用
2.3 Fixed, high dissipation film resistors
Fixed, high dissipation film resistors失效率的预测模型：
2.3.1 温度De-rating系数
根据πt的计算计算模型，带入环境温度、运行功率、额定功率，即可计算得出πt的值：
环境温度tA需要根据元器件使用的任务剖面计算平均环境温度，具体温度De-rating系数的计算可以参考：
ISO 26262中的失效率计算：Mission profile的使用
2.3.2 温度循环De-rating系数
根据工作循环次数，选择πn的计算计算模型，即可计算得出πn的值：
温度循环De-rating系数的计算参考：
ISO 26262中的失效率计算：Mission profile的使用
2.4 Low dissipation wirewound resistors
Low dissipation wirewound resistors失效率的预测模型：
2.4.1 温度De-rating系数
根据πt的计算计算模型，带入环境温度、运行功率、额定功率，即可计算得出πt的值：
环境温度tA需要根据元器件使用的任务剖面计算平均环境温度，具体温度De-rating系数的计算可以参考：
ISO 26262中的失效率计算：Mission profile的使用
2.4.2 温度循环De-rating系数
根据工作循环次数，选择πn的计算计算模型，即可计算得出πn的值：
温度循环De-rating系数的计算参考：
ISO 26262中的失效率计算：Mission profile的使用
2.5 High dissipation wirewound resistors
High dissipation wirewound resistors失效率的预测模型：
2.5.1 温度De-rating系数
根据πt的计算计算模型，带入环境温度、运行功率、额定功率，即可计算得出πt的值：
环境温度tA需要根据元器件使用的任务剖面计算平均环境温度，具体温度De-rating系数的计算可以参考：
ISO 26262中的失效率计算：Mission profile的使用
2.5.2 温度循环De-rating系数
根据工作循环次数，选择πn的计算计算模型，即可计算得出πn的值：
温度循环De-rating系数的计算参考：
ISO 26262中的失效率计算：Mission profile的使用
2.6 Fixed, low dissipation surface mounting resistors and resistive array
Fixed, low dissipation surface mounting resistors and resistive array失效率的预测模型：
其中：N为电阻阵列中的电阻器数量，需要额外输入。
2.6.1 温度De-rating系数
根据πt的计算计算模型，带入环境温度、运行功率、额定功率，即可计算得出πt的值：
其中：需要根据元器件的最大额定温度选择不同的电阻温度tR的计算模型；
环境温度tA需要根据元器件使用的任务剖面计算平均环境温度，具体温度De-rating系数的计算可以参考：
ISO 26262中的失效率计算：Mission profile的使用
2.6.2 温度循环De-rating系数
根据工作循环次数，选择πn的计算计算模型，即可计算得出πn的值：
温度循环De-rating系数的计算参考：
ISO 26262中的失效率计算：Mission profile的使用
3 电位器失效率的计算
3.1 Non wirewound cermet potentiometer
Non wirewound cermet potentiometer失效率的预测模型：
其中：与每年轴旋转次数相关的系数，根据旋转次数选择：
3.1.1 温度De-rating系数
根据πt的计算计算模型，带入环境温度、运行功率、额定功率，即可计算得出πt的值：
其中：
- 需要根据元器件的最大额定温度选择不同的电阻温度tR的计算模型；
- Rated power: 额定功率；
- V: 应用电压；
- R_P: 电位器的电阻；
- R_L: 负载电阻；
- 环境温度tA需要根据元器件使用的任务剖面计算平均环境温度；
具体温度De-rating系数的计算可以参考：
ISO 26262中的失效率计算：Mission profile的使用
3.1.2 温度循环De-rating系数
根据工作循环次数，选择πn的计算计算模型，即可计算得出πn的值：
温度循环De-rating系数的计算参考：
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