学习STM32开发,肯定少不了debug调试这一步骤。

本文介绍了STM32F1和Cortex-M3内核的调试框架,包括硬件调试模块、SWJ-DP调试接口、串行和JTAG调试接口的选择,以及如何释放调试脚作为普通I/O口的配置方法。对于STM32开发者,理解这些调试机制对于高效开发至关重要。
摘要由CSDN通过智能技术生成

学习STM32开发,肯定少不了debug调试这一步骤。那么,本文带你了解一下这个调试相关的知识。
本文以STM32F1、Cortex-M3为例,其它系列芯片或内核,原理相同或类似。
1概况
在STM32中,有很多调试组件。使用它们可以执行各种调试功能,包括断点、数据观察点、 闪存地址重载以及各种跟踪。
STM32F1使用Cortex-M3内核,该内核内含硬件调试模块,支持复杂的调试操作。
硬件调试模块允许内核在取指(指令断点)或访问数据(数据断点)时停止。内核停止时,内核的内部状态和系统的外部状态都是可以查询的。完成查询后,内核和外设可以被复原,程序将继续执行。
当STM32F10x微控制器连接到调试器并开始调试时,调试器将使用内核的硬件调试模块进行调试操作。
2
调试框图
STM32F1和Cortex-M3的调试框图:
在这里插入图片描述
提示:Cortex-M3内核内含的硬件调试模块是ARM CoreSight开发工具集的子集。
ARM Cortex-M3内核提供集成的片上调试功能。它由以下部分组成:
SWJ-DP:串行/JTAG调试端口
AHP-AP: AHB访问端口
ITM:执行跟踪单元
FPB:闪存指令断点
DWT:数据触发
TPUI:跟踪单元接口(仅较大封装的芯片支持)
ETM:嵌入式跟踪微单元(在较大的封装上才有支持此功能的引脚),专用于STM32F1的调试特性
灵活的调试引脚分配
MCU调试

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