2022年6月23日,POSTECH的Wook-Shin Han教授应北京大学王选计算机研究所数据管理实验室及北京大学人工智能研究院的邀请作讲座:Combining Sampling and Synopses with Worst-Case Optimal Runtime and Quality Guarantees for Graph Pattern Cardinality Estimation
讲座内容:
1. 图模式基数估计的问题背景(定义和应用)
2. 相关工作的介绍(基于采样和基于概要两大类方法)
3. 作者提出的方法,结合了采样和概要两类方法的思想
Combining Sampling and Synopses with Worst-Case Optimal Runtime and Quality Guarantees for Graph Pattern Cardinality Estimation
Wook-Shin Han教授
浦项科技大学
Wook-Shin Han教授:融合抽样和概要的具有最坏情况下的最佳运行时间和质量保证的图模式基数估计_哔哩哔哩_bilibili