本文简要介绍了DFT（Design for Test）的基本概念，探讨了如何在芯片设计阶段确保实现出厂芯片的正常工作。DFT的目标是通过测试方法验证芯片与设计图纸的一致性，以检测open/short故障。文章提到了利用ATE机台进行测试的挑战，如高昂成本和时间消耗，并指出DFT工程师的任务是寻找更经济、快速的测试方案。此外，还解释了open/short故障等效的Stuck at 0、Stuck at 1概念，以及如何通过特定输入测试逻辑单元的正确性。
对于我每天一千来字的文章来说，这个题目起的着实有点大。要知道现在的DFT所涉及的内容实在太多了，以至于催生了专门的DFT team和专门做DFT的工程师。但是对于芯片设计中的每一环，对DFT所要做的工作都必须有所了解，今天我就把我所理解的DFT简单介绍一下。
DFT全称为Design for Test，可测性设计。就是说我们设计好一个芯片后，在仿真时可能99%的用例都通过了，怎么保证流片出来的实际芯片也能正常工作呢？这里大家必须建立一个概念就是，不管是前端后端，总之只要是设计阶段，不管是waveform还是版图，他都不能完全代表最终出来的芯片的样子，那些设计图纸只是我们美好的想象，实际的制造结果可能会有工艺的偏差的。比如GDS里没有short，但是有可能制造出来的芯片真的有short，这就关系到我们所谓的良率问题。那么DFT的终极目标就是在流片后，我也能通过某些测试的方法，保证芯片和我们的设计图纸吻合，不出现异常。
这其实是一件很难的事情。因为芯片太小了，我们不可能拿着电子显微镜一点一点地去看吧，那要怎么做呢？其实它蕴含的思想很简单，或者说人类还没有发明出更高级的办法。大家肯定有在家里用过电笔的经历，或者稍微专业一点的都知道万用表，他们都是有内部的自建电路，然后利用探针来测被测电路的某一点电势，进而判断是否发生open/short。对于芯片的测试也没有更高级，也是用这种方法，可以利用探针探测芯片的输入输出引脚，看看输入输出是否正常，第二种
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