DFT学习笔记（二）|常用的DFT技术

一、 测试概念和原理

测试包含了三方面的内容：

• 已知的测试矢量

• 确定的电路结构

• 已知正确的输出结果

测试方式的分类

• 穷举测试矢量 ：穷举测试矢量是指所有可能的输入矢量。

• 功能测试矢量 ：功能测试矢量主要应用于验证测试中，目的是验证各个器件的功能是否正确。

• 结构测试矢量 ：这是一种基于故障模型的测试矢量，它的最大好处是可以利用电子设计自动化（EDA）工具自动对电路产生测试向量，并且能够有效地评估测试效果。

二、扫描设计（scan）

基于扫描设计是可测性设计中最常用的一种方法。它是指将电路中的普通触发器(flip-flops)替换为具有扫描能力的扫描触发器。扫描触发器最常用的结构是多路器扫描发器，即它在普通触发器的输入端口加上一个多路器如图所示。

基于扫描设计分为两种：全扫描以及部分扫描。全扫描设计是指将电路中所有的触发器替换为扫描触发器并将它们连在一起构成扫描链。部分扫描设计则是将电路中的部分触发器替换为扫描触发器并将它们连在一起构成扫描链。

扫描设计大大增强了电路的可测性，因为当电路中生成扫描链后，扫描链上的所有时序单元的D端都是扫描可观的，与D相连的节点就是可观性节点，而数据输出端Q端是扫描可控的，与D相连的节点就是可控性节点。

基于扫描设计可以显著地降低测试的复杂性，但是其不足在于使芯片面积略微增大，这不仅是因为扫描设计要将普通的触发器转换为扫描触发器的缘故，而且扫描设计大大增加了布线复杂性。

扫描测试的第一步是通过扫描移位(shift)操作将设计中的时序单元设置为期望的值，这个过程所需的时钟数就是内部最长的扫描链长度。这个过程SE=1，电路工作在扫描移动测试状态。第二步是施加激励并抓取响应(capture)。这个过程SE=0，电路工作在正常的功能状态。第三步是移出抓取的电路组合部分的响应。这个过程SE=1，电路工作在扫描移动测试状态。

在此过程中，扫描链不宜过长，过长会对后端的布线产生很大的负面影响，在实际中扫描链的数量也是很多的，而输入输出管脚有限，且为了减少在ATE机台上耗费的成本，需要对扫描链进行压缩，这个过程包括空间压缩和时间压缩。

三、内建自测试（BIST）

内建自测试是可测性设计的另一种重要的方法。这种方法的基本思想是由电路自己生成测试向量，而不是要求外部施加测试向量,它依靠自身逻辑来判断所得到的测试结果是否是正确的，这样就大大降低了对测试设备的要求，而且它所要求“借用”的芯片封装引脚的数目要少得多。内建自测试的基本原理如图所示。

BIST 又分为逻辑内建自测试(LBIST)和存储器内建自测试(MBIST)，MBIST又分为RAMBIST 以及ROMBIST。由于BIST要求电路自身生成测试向量，而随机逻辑的测试向量生成是非常复杂，故逻辑内建自测试在实际中应用有限，最常用的是MBIST。

RAMBIST

由于RAM 可读可写，因此我们要从读和写两个方面对它进行测试，其原理如图所示;又由于RAM 结构规整致密，故其测试向量不像普通电路测试向量那样复杂，RAM 测试的关键在于施加测试向量的时序上，最常用的是March算法。

ROMBIST

ROM BIST的作用有两个:一方面是要验证存储在ROM中的数据是否正确;另一方面是确保能够准确读出存储器中的信息，而不出现破坏性的读操作，即在进行读操作时不会改变或毁坏数据。ROM测试也可以采用类似RAM测试的March算法。

四、边缘扫描（Boundary Scan）

边缘扫描是欧美一些大公司联合成立的一个组织-联合测试行动小组(JTAG)为了解决PCB 板上芯片与芯片之间互连测试而提出的一种解决方案。由于该方案的合理性，它于1990年被IEEE采纳而成为一个标准，即IEEE1149.1。

边缘扫描占用四个芯片引脚，即测试数据输入(TDI)、测试数据输出(TDO)、测试式选择(TMS)以及测试时钟(TCK)。在正常的工作模式下，边缘扫描单元作为通常的输入输出器件;在测试模式下，测试向量将被施加到扫描输入、输出芯片的引脚。

边缘扫描与基于扫描设计有着明显的区别，前者是在电路的输入输出端口增加扫描单元，并将这些扫描单元连成扫描通路；而后者是将电路中普通时序单元替换为具有扫描能力的时序单元，再将它们连成扫描通路。

iJTAG：即插即用型的网络；规范化描述网络和调试操作；兼容IEEE1149.

SIB：Segment insertion bit 开：打开下一个层次。关：bypass模式

总结

DFT工作流程

DFT架构设计 - 实现什么测试功能/开销多大/测试时钟架构

MemoryBIST - 插入BIST/BISR/BISAFUSE

插入扫描链 - DFF替换为SDFF/规划并串链，测试端口/压缩逻辑

JTAG &iJTAG - 边界扫描链/JTAG TAP ControllerIJTAG网络

测试向量 - 自动向呈生成/仿真 生产后-Debug