显示模组整机高温测试闪屏重影

BOE的BV050HDE-N41-1Q00-1 LCD与矽创ST7703I搭配在高温70℃老化的过程中出现闪屏、重影的问题。

对闪屏和重影的产品进行电压电流分析，在不同的扫描方式下VGH和VGL的电流不一洋，正扫的电流至少大0.2ma，高温正扫更容易出现闪屏。

对ESD Check读进行确认，玻璃厂商要求ESD Check动作应在CLK的Blanking time内完成避免影响CLK信号导致与CLK信号重叠影响CLK信号的稳定性出现靠近IC端的闪屏。

针对以上闪屏的问题，分析确认为高温玻璃抽电流变大，导致玻璃Gate 开关异常，出现屏闪驱动IC ST7703I对初始化代码进行了如下修正：

1、EAH寄存器的第36个值更改为：0x10-》0x20，加大gate EQ，减小玻璃对IC的负载

2、E9H寄存器的第54个值更改为：0x00-》0x01，设定Blanking time区且CLK toggle按照玻璃spec设定。

除了以上高温闪屏的现象还有一种情况是在全代码烧录后部分产品会出现闪屏的现象，经过对比分析确认测试盒在OTP全代码过程中由于同时写入多组寄存器，应在多个寄存器后面添加延时或延长延时，避免一些寄存器没有烧录完整。