DFT中带有SSN结构的atpg回读flat_model

带有SSN(Streaming Scan Network)结构的atpg回读falt_model及pattern方式,SSN结构的具体行为及原理可见,zhuangdk博主文章。(16条消息) SSN ( Streaming Scan Network ) 是什么?_ssn网络_zhuangdk的博客-CSDN博客

set_context pattern -scan

read_icl ##带有SSN结构的需要先读icl,直接读flat_model会报错,提示the flat_model has been written in the presence of active SSH instances, which requires ICL.

read_flat_model

read_faults xx.faults    -retain

read_patterns  xx.ascii.gz

report_statistics -detail    ##检查读回faults和pattern后的coverage##

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DFT(Design for Testability)是一种设计用于测试的技术,而 ATPG(Automatic Test Pattern Generation)则是DFT的一个关键步骤。下面是DFTATPG流程的一般步骤: 1. 设计扫描链(Scan Chain):将设计的寄存器和内部节点连接起来形成一个线性的扫描链,以便在测试模式下将测试数据注入到设计。 2. 插入扫描逻辑(Scan Logic Insertion):在设计插入额外的逻辑电路,用于控制和管理扫描链的操作。 3. 生成测试模式(Test Pattern Generation):使用ATPG工具生成测试模式,这些模式可以覆盖设计的故障,并检测到故障。 4. 故障模拟(Fault Simulation):使用故障模拟工具,将生成的测试模式应用于设计,以验证测试模式的准确性和故障覆盖率。 5. 优化测试模式(Test Pattern Optimization):通过对测试模式进行优化,减少测试数据量,提高测试效率和覆盖率。 6. 生成ATPG模式(ATPG Pattern Generation):将优化后的测试模式转换为特定ATPG格式,以便在实际测试使用。 7. 设计验证(Design Verification):使用ATPG生成的模式对设计进行全面的验证,以确保设计在不同故障情况下的正确性和可靠性。 8. 硬件测试(Hardware Testing):将生成的ATPG模式加载到目标芯片或电路板进行硬件测试,以检测和诊断故障。 以上是DFTATPG流程的一般步骤。具体的实施方法和工具可能会因项目和需求而有所不同。希望对你有所帮助!如果你还有其他问题,请随时提问。
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