ATPG Basic Tool Flow
完成图8-1所示测试pattern生成所需的任务描述如下:
1.使用“Tessent-Shell”命令调用Tessent Shell。使用Set_context命令将context设置为“patterns-scan”,这允许访问ATPG功能。
2.ATPG工具需要一个结构(门级)设计网表和一个DFT库,您可以分别使用read_cell_library和read_verilog命令来完成。
3.读取库和网表后,工具进入设置模式。在设置模式中,可以交互地使用命令或通过使用dofile来执行多个任务。可以设置有关设计和设计扫描电路的信息。
4.执行所有所需设置后,您可以退出设置模式,该模式会触发许多操作。如果这是第一次尝试退出设置模式,该工具将创建一个flatten的设计模型。
5.接下来,该工具对该模型进行广泛的学习分析。
6.一旦工具创建了一个flatten模型并学习了其行为,它就开始drc。
7.一旦设计通过规则检查,该工具将进入分析模式,在该模式下,您可以对设计的模式集执行模拟。
8.此时,您可能需要创建模式。您还可以执行一些其他设置步骤,例如添加故障列表。 在ATPG运行期间,该工具还执行故障模拟,以验证生成的模式检测目标故障。在任何一种情况下(完全或部分扫描),您都可以在不同的约束下运行ATPG,或者使用附加的测试模式来扩展测试向量集,以实现更高的测试覆盖率。
ATPG Tool Inputs and Outputs
ATPG工具使用多个输入来生成测试模式、故障列表和ATPG信息文件。
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Basic ATPG Process
ATPG工具设置了默认值,因此当第一次启动ATPG时(通过发出create_patterns命令),该工具将对目标故障列表执行随机模式故障模拟和确定性测试生成的有效组合。
Random Pattern Generation Using the ATPG Tool
该工具首先对每个捕获时钟执行随机模式故障模拟,当模拟模式未能检测到至少0.5%的剩余故障时停止。然后,该工具对没有捕获时钟的模式以及测量连接到时钟线的主要输出的模式执行随机模式故障模拟。
Deterministic Test Generation Using the ATPG Tool
使用随机模式方法检测某些故障的可能性非常低。因此,在完成随机模式模拟之后,该工具对当前故障列表中的选定故障执行确定性测试生成。这个过程包括为故障列表中随机选择的一组故障创建测试模式。
在此过程中,工具将识别并从故障列表中删除冗余故障。在为故障模拟过程创建足够的模式后,它会显示一条消息,指示冗余故障的数量、ATPG不可测试故障的数量以及测试生成器识别的中止故障的数量。然后,该工具再次调用故障模拟器,从故障列表中删除所有检测到的故障,并将有效模式放入测试集中。然后,该工具选择另一组模式并重复该过程,直到当前故障列表中没有故障,测试生成期间中止的故障(即UC或UO类别中的故障)除外。
ATPG Tool Timing Model
该工具使用基于周期的计时模型,将测试模式事件分组为测试周期。ATPG工具模拟器使用非扫描事件:force_pi、measure_po、capture_clock_on、capture_clock_off、ram_clock_ on和ram_clock _off。该工具使用固定的测试循环类型
用于ATPG;也就是说,
不能修改它。
最常用的测试周期包含事件:force_pi、measure_po、capture_clock_on和capture\uclock_off。用于读取或写入ram的测试向量包含事件force_pi、ram_clock_on和ram_clock _off,可以通过计时文件将每个事件实时关联起来。
ATPG Tool Pattern Types
ATPG工具有几种不同类型的测试模式。也就是说,它可以根据设计的样式和电路以及您指定的信息生成几种不同类型的pattern。默认情况下,该工具生成基本扫描模式,该模式采用全扫描设计方法。以下小节描述了基本的扫描模式,以及该工具可以生成的其他类型的模式。
Basic Scan Patterns
如上所述,该工具默认生成基本扫描模式。扫描模式包含将一组值强制到所有扫描单元和主要输入(force_pi)的事件,然后观察所有主要输出和扫描单元(measure_po)的结果响应。
该工具使用任何定义的扫描时钟将数据捕获到可观察的扫描单元中(capture_clock_on、capture_clock_off)。扫描模式参考适当的测试程序来定义如何控制和观察扫描单元。该工具要求每个扫描模式独立于所有其他扫描模式。基本扫描模式包含以下event: