DM6437-读写SRAM测试过程

硬件平台：DM6437EVM

调试工具：CCS3.3

编写SRAM  读写程序：

Uint32 memfill_print( Uint32 start, Uint32 len, Uint32 val )
{
    Uint32 i;
    Uint32 end = start + len;
    Uint32 errorcount = 0;
    /* Write Pattern */
    for ( i = start; i < end; i += 4 )
    {
        *( volatile Uint32* )i = val; 
    }
 //从起始地址开始，依次写入同一个测试值
    
    /* Read Pattern */
    for ( i = start; i < end; i += 4 )
    {
        if ( *( volatile Uint32* )i != val )
        {
            errorcount++;
            break;
        }
 //从起始地址开始，依次将存入的值打印输出
        printf( "%x\n",*( volatile Uint32* )i );
    }return errorcount;
} 

  （volatile Uint32 *）i ：将 i 强制转换成易变指针，指向start，start为SRAM写入的首地址。

*（volatile Uint32 *）i ：改写 i 指向地址中的值。

编写test函数：

Int16 sram_test_1( void )
{
    Uint32 errors = 0;
    Uint32 base = EMIF_CS2_BASE;  //起始地址在evmdm6437.h中定义
								  // #define EMIF_CS2_BASE  0x42000000
    Uint32 size = 0x00000100;  
  
    /* Initialize SRAM */
    sram_init( ); //sram初始化

    /* Data tests */
    memfill_print( base, size, 0xFFFAAAAA );
}

编写主函数：

void main( void )
{
    /* Initialize BSL */
    EVMDM6437_init( );
    sram_test_1( );
  
    printf( "\n***ALL Tests Passed***\n" );
    
}

运行结果正常：

易失败点：

①在.c文件中使用printf函数的时候要注意加上stdio.h

②测试的时候将EVM板上的JP2跳线帽跳到SRAM，方能进行SRAM的测试。