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应用案例
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半导体测试____Hongke
半导体测试的行业动态、科技突破、应用案例、产品信息
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如何利用任意波形发生器创建你想要的波形并输出
此次我们将介绍如何使用波形编辑工具使用数学函数或绘图创建,编辑波形,并将其顺利下载到任意波形发生器上,进而进行波形输出。主要使用到的工具有虹科的模拟波形开发和分析软件WaveEasy以及虹科的GX1110型任意波形发生器板卡。WaveEasy可以与Geotest GX1110任意波形发生器软件前面板接口进行连接,允许用户使用功能强大的波形编辑器创建波形,然后将波形下载到GX1110存储器中以生成波形。以下步骤描述了该过程:1.在WaveEasy中创建标准波形,复杂的数学函数或徒手波形。在GtWave原创 2020-12-22 08:37:40 · 3292 阅读 · 5 评论 -
什么是金属氧化物(MOX)气体传感器
MOX气体传感器是一种以多芯片组件(MCM)形式制造的MEMS器件(微机电系统)。MCM的基本组件是在晶片上预先测试的微控制器专用集成电路(ASIC)和本测试应用的对象传感器。这些组件被放置在一个共同的基板上,一个盖子被放置在组件上,盖子上有一个小孔或网格,允许气体进入传感器。该传感器由一个小型加热元件组成,该加热元件容纳在涂有专有金属氧化物材料的薄膜下。MOX材料是可变电阻器,可对所接触的气体中的化学物质做出响应。MOX可以制定为对某些类型或类别的气体(称为目标气体)做出不同的响应。在“干净”空气的环原创 2020-12-09 17:55:37 · 5105 阅读 · 1 评论 -
关于数字万用表你需要知道的知识
测量电压、电流、电阻和频率是大多数测试程序的一个组成部分。往往需要高性能的DMM(数字万用表)。为满足自动化、稳定的测试系统的要求,提供了一种自动化、稳定的测试系统。很多时候,通过将台式数字万用表作为ATE系统的一部分来满足这一要求。然而,随着基于板卡模块的ATE系统(如PXI)的日益增多的使用,DMM结合了基于PXI的高性能,为测试工程师提供了进一步降低ATE系统总体占地面积的能力。然而,在PXI外形中提供同等或更好的DMM性能会带来重大的设计挑战。原创 2020-12-03 15:51:30 · 1985 阅读 · 1 评论 -
如何使用PXI仪器进行高级数字测试
本文演示了灵活,可扩展的PXI平台的开放式体系结构硬件和软件的优势,用于半导体测试被测设备 目标设备是具有802.11n和蓝牙功能的WiFi IC。在查看了目标IC规范后,确定了一组测试IC的资源要求,并将其与PXI尺寸中可用的仪器相匹配。被测设备(DUT)需要四个电源,并且在给DUT上电时必须按特定顺序对电源进行排序。此外,尽管DUT的IDD非常低,但在初始化DUT时,其中一个电源的浪涌电流可能会超过1A。电源要求强制使用可编程电源,并且必须容纳1A的浪涌电流。 初...原创 2020-11-19 16:12:47 · 586 阅读 · 2 评论 -
解决方案聚焦:如何进行5G/毫米波产品性能测试
在卫星通信中,随着24-100GHz频段5G-NR(新无线电)的发展,波束形成是实现相控阵和毫米波天线的关键技术。设备制造商现在正在开发具有5、9甚至17个毫米波端口的多端口波束形成设备,重点是为5G NR网络批量提供这些设备。对于生产测试应用,设备供应商正在寻找能够支持多站点、高性能的毫米波测试功能的测试解决方案。这些装置的试验要求包括: ...原创 2020-11-13 14:11:10 · 519 阅读 · 1 评论 -
如何使用外部事件对被测设备(DUT)执行同步暂停/恢复操作
概述:通常,测试具有数字接口的设备需要能够等待设备响应发送给它的特定模式序列。对于包含使用硬件握手来同步数据传输的总线传输的设备来说尤其如此。 GX5280/GX5290数字仪表卡系列提供16个可用于支持这种握手过程的外部事件输入。本文介绍了如何使用外部事件对被测设备(DUT)执行同步暂停/恢复操作。外部事件 GX5280和GX5290数字IO仪器(DIO)提供16个外部输入信号,这些信号可用于暂停和触发(恢复)数字模式序列。这种基于硬件信号的暂停然后恢复模式排序的能...原创 2020-10-27 17:42:11 · 2191 阅读 · 5 评论 -
LXI和USB在PXI系统中的使用
前言PXI规范为PXI和PXIe预留了很多发展空间。这一次,我们将介绍两种Pickering interfaces在具体应用中使用PXI的新方法。在LXI环境中使用PXI产品在PXI系统中,PXI模块表现为基于PCI的计算机系统的延伸,使用中如同该模块被安装在了计算机内部。对于大多数应用来说,这样的结构是一种很合理的设计,但是有些时候用户更注重PXI模块的功能性以及远距离连接与操作的能力,而控制器的性能和升级更新相对次要。此时采用基于以太网的LXI标准作为它的控制接口就适用于很多此类的.原创 2020-09-01 17:52:17 · 1397 阅读 · 1 评论 -
测试成本--半导体测试最大的障碍
前言半导体测试产品提供商面临的一些最大挑战已经存在数十年了:测试成本,提高测试程序的质量以及不妨碍设计人员的生产率,这些仍将是需要克服的主要障碍。如今,随着越来越复杂的设备的出现,测试设备提供商需要不断创新并满足当今快速发展的需求。半导体测试领域还面临着其他挑战。移动电子推动了对更小的半导体节点的需求,而其他现代因素(例如云利用率,人工智能和5G)都给测试人员带来了自身的困难。半导体测试的挑战 有机构对几家领先的半导体测试供应商进行了调查,了解他们认为这一领域最大的挑战是什么,以及...原创 2020-08-26 20:55:23 · 1722 阅读 · 1 评论 -
如何利用基于PXI的下一代ATE系统测试平台进行军事/航天/卫星电子设备测试
前言 自动测试设备(ATE)系统用于在生产产品或产品使用过程中测试电子组件,子组件或完整系统的功能和性能,以确保他们可操作性。对设备、电路板、子组件或系统的测试要求从简单到复杂,设计测试系统的方法可能基于定制以及专有硬件和软件,或基于商用现成品(COTS)技术。 20世纪60年代末,商用ATE系统首次出现在市场上。这些ATE系统基于专有的数字、模拟和交换架构,并被广泛的客户用于高价值、关键任务产品的功能测试和验证,例如:•板级和系统级航空电子设备。•武器和航空电子设...原创 2020-08-12 14:19:38 · 2534 阅读 · 2 评论