半导体测试：基于PXI 平台的先进性能中的AC/DC和V-I测试

前言

       当今半导体测试工程师面临的挑战是如何寻找和创建一个新的测试解决方案，该方案被要求能够显著降低测试成本，并满足可配置、开放架构、灵活的测试解决方案的需求，这些解决方案可以提供与专用ATE平台相媲美的功能。特别是，对于低至中等数量的测试需求，例如在试生产、验证和集中生产过程中的测试应用，对灵活且经济高效的ATE解决方案的需求尤为迫切。对于这些应用，测试工程师过去一直依赖传统的测试系统，这些系统的购置成本很低，但运营成本很高，或者是内部设计的机架堆叠的解决方案。然而，基于PXI平台的半导体测试系统解决方案在功能和性能方面在过去这些年中取得了显著的进步，为测试工程师提供一个可行的替代方案，以满足当前和未来的测试需求。

        对于数字和系统芯片测试应用，今天的PXI测试系统提供中等到高数字通道计数能力，每个引脚都有参数测量单元（PMU）功能。然而，现有的PXI数字子系统由于其有限的定时引擎能力，在很大程度上仅限于验证设备的DC和功能测试特性。为了完全满足“big ATE”中的测试要求，基于PXI的测试系统（及其数字子系统）还必须能够测试设备的交流特性，例如设置和保持时间——这一能力是当前一代PXI仪器不容易实现的。最新一代的PXI系统和仪器提供了专利ATE系统中的许多功能，包括一个先进的定时引擎和用于导入测试向量和开发测试程序的软件工具。

半导体测试要求

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