文章探讨了高性能数字万用表在自动化测试系统（ATE）中的重要性，特别是在PXI平台上。内容涉及数字万用表的分辨率、测量漂移以及设计挑战。高性能DMM在精度、稳定性和低漂移方面具有优势，适用于长时间、大温差的精确测量。文章以6.5位数字万用表为例，解释了分辨率的计算，并指出PXI平台上的DMM设计需平衡积分时间与噪声。最后，介绍了紧凑型的3U PXI数字万用表GX2065，其集成的高性能和多功能特性，以及在ATE应用中的优势。
测量电压、电流、电阻和频率是大多数测试程序的一个组成部分。往往需要高性能的DMM（数字万用表）。为满足自动化、稳定的测试系统的要求，提供了一种自动化、稳定的测试系统。很多时候，通过将台式数字万用表作为ATE系统的一部分来满足这一要求。然而，随着基于板卡模块的ATE系统（如PXI）的日益增多的使用，DMM结合了基于PXI的高性能，为测试工程师提供了进一步降低ATE系统总体占地面积的能力。然而，在PXI外形中提供同等或更好的DMM性能会带来重大的设计挑战。
高性能数字万用表通常按测量分辨率分为：4.5位数、5.5位数等。数字万用表的分辨率定义如下：
位数=log10（（量程范围）/（量程分辨率）
或
（量程分辨率）=（量程范围）/（10^(位数)）
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