本文探讨了PXI平台如何利用其开放式体系结构的硬件和软件优势，进行半导体测试，特别是在针对802.11n和蓝牙功能的WiFi IC的测试中。测试系统包括可编程电源、DUT板和数字测试仪器，如GX5296。测试软件部分，使用了MTS的GtDio6x-FIT工具和ATEasy®环境来控制测试过程和结果报告。
本文演示了灵活，可扩展的PXI平台的开放式体系结构硬件和软件的优势，用于半导体测试
被测设备
目标设备是具有802.11n和蓝牙功能的WiFi IC。在查看了目标IC规范后，确定了一组测试IC的资源要求，并将其与PXI尺寸中可用的仪器相匹配。被测设备（DUT）需要四个电源，并且在给DUT上电时必须按特定顺序对电源进行排序。此外，尽管DUT的IDD非常低，但在初始化DUT时，其中一个电源的浪涌电流可能会超过1A。电源要求强制使用可编程电源，并且必须容纳1A的浪涌电流。
初始加电时，DUT处于低功率空闲状态，因此可以进行通信。DUT上有两个通信端口：JTAG端口和扫描端口。JTAG端口用于配置和初始化DUT，并执行IO的初始结构测试。扫描端口用于配置DUT的运行并完成结构IO测试。还可以使用“扫描”端口控制DUT进行其他功能测试。
由于已经在UltraFlex系统上对DUT进行了测试，因此DUT具有一套经过验证的测试模式，可用于PXI系统。Marvin Test Solutions的文件转换工具可用于将ATP文件转换为硬件特定的图案，而数字测试
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