衬底准备:
首先准备适当大小的SOI晶圆,可以采用dice或者cleace方法。
确保SOI晶圆表面清洁,注意溶剂种类、超声频率、清洗时间。
之后,进行氧等离子清洗,注意清洗时间。
涂胶:
首先根据刻蚀深度、选择比来确定涂覆光刻胶的厚度。再根据所需光刻胶厚度调整旋涂参数,如转速和时间。
预烘:
涂胶后进行烘烤,注意加热温度和时间。
电子束曝光:
需要控制的主要参数包括曝光剂量、曝光时间,bias。
显影:
根据光刻胶型号选择合适的显影液和定影液,合理控制时间,然后氮气吹干。
后烘:
在显影后进行低温后烘,注意加热温度和时间。
蚀刻:
主要参数:气体种类、流量、温度、压强、射频功率、刻蚀时间。
去胶:
等离子去胶利用高能等离子体氧化分解光刻胶,工艺的主要参数包括气体种类、气压、射频功率、时间、温度和气体流量。