氧化硅片/锑化镓晶片介绍-供应钆镓石榴石(Gd3Ga5012)/砷化镓(GaAs)/钪酸钆(GdScO3)晶体基片

本文介绍了氧化硅片的生产工艺、特点及规格,包括氧化层厚度、平整度和翘曲度等关键指标。同时,提到了锑化镓晶片作为半导体材料的特性,如位错密度和生长方法。文章还列举了多种晶体基片产品,如钆镓石榴石、砷化镓、磷化镓等,适用于不同领域的应用。
摘要由CSDN通过智能技术生成

氧化硅片
简介:
二氧化硅片是指在硅片表面热生长一层均匀的介质薄膜,用作绝缘、或者掩模材料。
氧化工艺包括高温干氧氧化、高温湿氧氧化。公司采用进口先进氧化设备、工艺实现氧化层均匀、准确的生成。
产品特点:
● 氧化层厚度均匀 ● 平整度好 ● 翘曲度小
● 尺寸公差小 ● 表面无光滑无瑕疵
规格说明
外形尺寸:1",2",3",4",5",6",7 ~ 12"可定制
型号N型/ P型、本征(不掺杂)客户要求
直径:50 ~ 300mm
总厚度:250 ~ 600 μm可定制
厚度误差±10μm
氧化层厚度50nm ~ 2000nm(常规100nm,200nm,300nm,500nm,1000nm)客户要求
平整度(TIR)< 3 μm
翘曲度(BOW)≤15μm
TTV:≤15μm,30μm
粗糙度< 0.5nm
电阻率:0.001~ 20000 (Ω·cm)
在这里插入图片描述
锑化镓晶片
简介
锑化镓为半导体材料。分子式为GaSb,闪锌矿型结构,晶格常数0.6094nm,密度5.6137g/cm3,为直接带隙半导体,室温时禁带宽度为0.70eV。
技术参数
单晶 GaSb
位错密度cm-2 <103
生长方法 LEC
最大尺寸 Φ3″
标准基片 Φ3″×0.5, Φ2″×0.5
表面处理 研磨&#x

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