本文系列详细探讨了相机图像质量受光学结构、CMOS特性（如靶面尺寸、CFA、SensorNoise等）、过曝欠曝现象及其优化方法。涵盖了过曝欠曝产生的原因、解决方案以及编解码、图像处理等环节对成像的影响。
系列文章目录
相机图像质量研究(1)Camera成像流程介绍
相机图像质量研究(2)ISP专用平台调优介绍
相机图像质量研究(3)图像质量测试介绍
相机图像质量研究(4)常见问题总结：光学结构对成像的影响--焦距
相机图像质量研究(5)常见问题总结：光学结构对成像的影响--景深
相机图像质量研究(6)常见问题总结：光学结构对成像的影响--对焦距离
相机图像质量研究(7)常见问题总结：光学结构对成像的影响--镜片固化
相机图像质量研究(8)常见问题总结：光学结构对成像的影响--工厂调焦
相机图像质量研究(9)常见问题总结：光学结构对成像的影响--工厂镜头组装
相机图像质量研究(10)常见问题总结：光学结构对成像的影响--光圈
相机图像质量研究(11)常见问题总结：光学结构对成像的影响--像差
相机图像质量研究(12)常见问题总结：光学结构对成像的影响--炫光
相机图像质量研究(13)常见问题总结：光学结构对成像的影响--鬼影
相机图像质量研究(14)常见问题总结：光学结构对成像的影响--伪像
相机图像质量研究(15)常见问题总结：光学结构对成像的影响--暗角
相机图像质量研究(16)常见问题总结：光学结构对成像的影响--IRCUT
相机图像质量研究(17)常见问题总结：CMOS期间对成像的影响--靶面尺寸
相机图像质量研究(18)常见问题总结：CMOS期间对成像的影响--CFA
相机图像质量研究(19)常见问题总结：CMOS期间对成像的影响--Sensor Noise
相机图像质量研究(20)常见问题总结：CMOS期间对成像的影响--全局快门/卷帘快门
相机图像质量研究(21)常见问题总结：CMOS期间对成像的影响--隔行扫描/逐行扫描
相机图像质量研究(22)常见问题总结：CMOS期间对成像的影响--光学串扰
相机图像质量研究(23)常见问题总结：CMOS期间对成像的影响--紫晕
相机图像质量研究(24)常见问题总结：CMOS期间对成像的影响--摩尔纹
相机图像质量研究(25)常见问题总结：CMOS期间对成像的影响--过曝、欠曝
相机图像质量研究(26)常见问题总结：CMOS期间对成像的影响--坏点
相机图像质量研究(27)常见问题总结：补光灯以及遮光罩对成像的影响--遮光罩
相机图像质量研究(28)常见问题总结：补光灯以及遮光罩对成像的影响--补光灯
相机图像质量研究(29)常见问题总结：图像处理对成像的影响--图像插值Demosaic
相机图像质量研究(30)常见问题总结：图像处理对成像的影响--重影
相机图像质量研究(31)常见问题总结：图像处理对成像的影响--图像差
相机图像质量研究(32)常见问题总结：图像处理对成像的影响--振铃效应
相机图像质量研究(33)常见问题总结：图像处理对成像的影响--锯齿
相机图像质量研究(34)常见问题总结：图像处理对成像的影响--拖影
相机图像质量研究(35)常见问题总结：图像处理对成像的影响--运动噪声
相机图像质量研究(36)常见问题总结：编解码对成像的影响--块效应
相机图像质量研究(37)常见问题总结：编解码对成像的影响--条带效应
相机图像质量研究(38)常见问题总结：编解码对成像的影响--呼吸效应
相机图像质量研究(39)常见问题总结：编解码对成像的影响--运动模糊
相机图像质量研究(40)常见问题总结：显示器对成像的影响--画面泛白
目录
前言
只要是图像传感器，就会收到半导体势阱容量的限制，无法累计过多的电荷，而实际场景的光线强度大到使半导体累计电荷达到上限时，就会产生过曝。。
一、过曝和欠曝产生的原因
简单来说主要原因是拍摄场景的动态范围大于CMOS的动态范围。详细来讲，过曝就是半导体累计的电荷容量达到上限，导致接收不同光线强度的传感器像素点输出的电荷相同，从而无法还原真实场景物体亮度。欠曝就是半导体累计电荷太少，导致接收不同光线强度的传感器像素点输出的电荷接近，从而难以区分物体亮度差异。
二、过曝欠曝优化的方法
从直接原因来讲是传感器的动态范围太小，因此最直接解决办法：替换动态范围更大的sensor，打开宽动态。
总结
本节讲了过曝欠曝产生的原因，现象和减弱方法。
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