CT与DR双能X射线物质识别算法实现与应用(工业选煤、稀土分拣、毒爆检测、垃圾分类等)
算法涉及到的理论和模型,来自CNKI相关技术论文(不包括本人改进部分),如涉及版权问题,请联系本人。
物质识别的技术很多,比如质谱仪,色谱仪(利用物质原子/离子改变火焰颜色,通过光谱分辨物质),分析化学等各种方法,但这些物质识别方法都要一定的专业知识,使用方法也不方便,大部分需要采集部分样品进行分析,远不如双能射线非入侵式简便。笔者长期进行双能射线物质识别算法的应用研究,开发多种应用设备,识别的效果还算可以,但依然有改进之处,本人写下博文希望抛砖引玉,共同从事这方面工作的高手不吝赐教,提出宝贵的意见。下面介绍我在双能物质识别算法中使用过的方法,并展现工业选煤的效果。
依据的理论 X射线通过物体后,由于物理效应(康普顿效应、电子对效应、光电效应、相干散射等)会发生衰减,衰减规律服从比尔律:
---①,
---②
其中,μ衰减系数(与Z,ρ和E有关),l为物体的长度(厚度),I和I0为射线穿透物体前和穿透物体后衰减后的能量,e是自然底数(为什么是e,我也不知道,世界简单又复杂)。
双能能进行物质识别的根本原因是:相同厚度不同物质对同一射线的衰减量不一样;等效厚度一致的不同材料的物体,对另一种能量的射线衰减量也不一样。衰减是能量E和物质Z,厚度ρ的函数。Z用于物质判别(色调H),ρ用于物质形态(厚度和形态,比如液态水和水蒸气)判别(饱和度V)。
CT和DR在物质识别算法上的不同 CT和DR成像对于物质识别算法最大的不同是:DR成像是探测器得到物体射线方向总厚度上的衰减系数的线积分,基于线积分做物质分解(等效原子系数Z和厚度ρ);CT成像是探测器得到物体射线方向总厚度上的衰减系数的线积分,但是把线积分通过重建算法,重新投射到物体对应的空间位置上(等效于积分逆过程),基于重新投射的衰减系数做物质分解(等效原子系数Z和电子密度ρ),这样可以避免重叠问题。