关于STM32G071RB的ADC采集误差问题

本文讨论了G0系列控制器在开启ADC采集后,由于内部电路导致的管脚尖刺问题,从而影响采集精度。该问题被确认为控制器本身的缺陷,并在勘误手册中提出了解决方案。通过使用HAL库的校准函数,可以有效修正ADC采集值的偏差,提高测量准确性。在应用校准函数后,采集数值得到了改善。测试环境未在内容中详细说明。
摘要由CSDN通过智能技术生成

1 G0系列控制器在开启ADC采集后,因为开启ADC采集功能时,内部ADC处理电路会向管脚泄露一些电荷,在管脚上面形成毛刺,即便将ADC的采集管脚接地,测量ADC采集使用的管脚也会产生较大的尖刺,如下图
ADC开启通道采集后,在管脚上面形成的干扰尖峰
2 由于尖刺的影响,会对采集的数值造成偏差,影响了采集精度

3 通过勘误手册得知,这个问题属于G0控制器本身的问题
勘误手册
4 勘误手册提出的解决办法
勘误手册提出的解决办法
5 勘误手册提出的解决办法-翻译
勘误手册翻译
6 程序解决办法
可以使用HAL库的校准函数,修正尖峰带来的ADC采集值偏差
HAL库函数
7 通过校准函数修正后,测量得到的数值是:
在这里插入图片描述
8 测试环境
在这里插入图片描述

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