SAR ADC另外一篇论文

这几天在看另外一篇论文，看了一下方法，其实跟之前那篇三分段的差不多，也是使用模拟方法来校准电容失配的，只不过这篇利用了低位二进制权重的方法，可以不需要Cal DAC了,总的来说就是把低位当做了Cal DAC,这方法好是好，但是会有误差累计的问题，应该不适用于高精度。

1、算法工作原理

基本原理就是将低位电容看作理想电容，然后利用低位电容对高位电容进行量化，得到高位电容的权重。这样的话，不需要额外的模拟电路和持续的输入信号，并且功耗低，速度快。

以10 位 SAR ADC 为例，假设低 7 位电容，即 C0 到 C6 失配造成的非线性误差在1LSB 以内，称为 ZDAC，具体的校准过程如下：

1、首先校准电容 C7，将 DAC 的上极板接固定电压 VCM，ZDAC 的下级板接 GND，高位电容下级板接 Vref，此时 Vdac_out=VCM；

2、将待校准电容 C7 的下级板由 Vref 接到 GND 不动，同时将 ZDAC 中的最高位电容C6的下级板预置为Vref，然后将 Vdac_out与 VCM 进行比较；

3、依据比较结果确定 C6 的下级板，若 Vdac_out<VCM，CMP=0，C6 下级板接 Vref，D6=1，否则 C6 下级板接 GND，D6=0，同时将下一位电容 C5 的下级板预置为 Vref；

4、重复第二步和第三步，直到最后一位电容的数字信号 D0 确定，此时，C7 的权重就可以通过 C6 到 C0 的权重与对应的数字信号表示，将该结果存储起来；

5、校准后的 C7 和 ZDAC 作为新的 ZDAC，重复上述步骤对 C8 进行校准，以此类推直到将高位电容权重全部校准。

总的来说，方法还是比较简单的，但是问题低位的量程问题，如果在量化C7的误差时，误差电压过大，超过了ZDAC的范围，此时测出来的误差值还是准确的吗，因此对于电容，还需要再测量出其最大误差电压的大小，来确定低位的量程从哪里开始。还有就是刚刚提到的误差累计问题。

二、量化误差

该校准技术的一个关键问题是低位电容的量化误差会指数性累积到高位电容。

假设，用 C0 到 C6 量化 C7 时的量化误差δ7=Δ0，当用 C7 到 C0 作为新的 ZDAC 对 C8 进行校准时，δ7 会累积到 C8 上，C8 的量化误差位δ8=Δ0+Δ1，用 C8 到 C0 校准 C9 时，若用到了 C8 和 C7，C9 的量化误差为δ9=2Δ0+Δ1+Δ2，以此类推δ10=3Δ0 +2Δ1+Δ2+Δ3，Δ0、Δ1、Δ2、Δ3 分别表示 C7、C8、C9 和 C10 理想情况下的量化误差。可以看出，若 ADC的精度很高，最高位的误差就会超过 1LSB，导致校准算法效果不理想。

三、一些解决思路

1、减小每一位校准电容的量化误差。就是利用噪声高斯分布的原理，在每一位电容校准时进行多次比较，在噪声的影响下，会得到多个校准权重，然后取平均值作为待校准电容新的权重。

2、归一化。对每一位电容的权重进行归一化，归一化后，所有电容权重的之和为1，这意味着所有电容的误差之和为零，即高位电容的误差会按比例重新分配给低位电容，大大减小了每一位电容权重的误差，校准效果显著提升。