无源S参数2X-Thru去嵌方案 PCB工艺

最新推荐文章于 2024-08-19 00:33:12 发布
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文章标签： pcb工艺 python 开发语言
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本文介绍了无源S参数2X-Thru去嵌方案在PCB设计中的应用，详细阐述了工艺流程，并给出了Python代码示例，旨在帮助消除高频电路测量中的布线影响，确保测量准确性。

摘要生成于 C知道 ，由 DeepSeek-R1 满血版支持， 前往体验 >

随着高频电子设备的快速发展，无源S参数2X-Thru去嵌方案成为了PCB设计中的重要环节。本文将详细介绍无源S参数2X-Thru去嵌方案的工艺，并提供相应的源代码。

无源S参数2X-Thru去嵌方案是一种用于测量高频电路的方法，通过将待测电路与已知参考电路进行比较，可以准确测量电路的S参数。在进行测量之前，需要对待测电路进行嵌入去嵌处理，以消除电路布线对测量结果的影响。

以下是一个示例的无源S参数2X-Thru去嵌方案的工艺代码：

import numpy as np

# 定义参考电路的S参数矩阵
ref_s_params = np.array([[1, 0.2
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无源S参数2X-Thru去嵌方案
weixin_43291134的博客
08-04 7285
无源参数测试去嵌
直通(Through)去嵌
qq_43190217的博客
04-06 1864
双端口模型的片上去嵌——直通去嵌法
使用VNA（Vector Network Analyzer）对S参数进行去嵌（一）
小孟同学的博客
11-08 9088
传统上，RF和微波组件被设计成具有同轴接口的封装。通过连接一系列这些单独的同轴设备，可以容易地制造复杂的系统。使用使用类似同轴接口的标准测试设备可以很容易地测量这些部件和系统的性能。然而，现代系统需要更高水平的组件集成、更低的功耗和更低的制造成本。射频组件正在迅速从使用昂贵同轴接口的设计转向使用印刷电路板和表面贴装技术（SMT）的设计。传统的同轴接口甚至可以从最终产品中取消。这就给设计者留下了用需要同轴接口的测试设备测量这些射频和微波组件性能的问题。解决方案是使用连接同轴和非同轴传输线的测试夹具。
TRL校准(去嵌De-embedding)
qq_43190217的博客
09-14 7957
TRL去嵌(De-embedding)
去除多余嵌套的列表
weixin_34273481的博客
05-06 2087
题目 list1 = [11, [22, 3], [4, ], [55, 66], 8, [9, [7, [12, [34, [26]]]]]] 去除多余嵌套的列表,得到[11, 22, 3, 4, 55, 66, 8] 解题 方法1： def func(x): ret = [] for b in x: if isinstance(b, list): ...
AFR 去嵌 Deeembedding 软件工具
kuairedexiaoxiao的博客
11-03 4517
一、将2x-Thru S4p(s2p)文件，可分解为两个S4p(s2p)文件。二、导入Fixture-DUT-Fixture S4p(s2p)文件，左右两边Fixture的S4P文件，去嵌得到DUT的S4P文件。类似是德科技PLTS的AFR功能，将 2xthru 分离，去嵌扣除，和PLTS对比过数据，1、导入2x-Thru S4p(s2p)文件，可分解为两个S4p(s2p)文件。3、de-embedding，得到最终去嵌治具扣除后的S4p(s2p)文件。需要源码或者软件，加下图上QQ聊。
_PLTS2014_只用于学习用途
02-26
但当信号速率高于3.125Gbps后，达到6.25Gbps,甚至10Gbps,甚至25Gbps后，阻抗参数模型过于简化，不足于表征高速互连性能，混合模式S参数则可以精确的像衡量微博系统一样来衡量高速互连的性能。 　在仿真分析方面，...
SAE J2534-2-2019 Optional Pass-Thru Features - 完整英文版（140页）.zip
09-30
SAE J2534-2-2019 Optional Pass-Thru Features 是一份重要的标准文档，由美国汽车工程师学会（Society of Automotive Engineers）发布，用于定义车辆诊断和编程的标准接口。这份文档详细阐述了如何通过Pass-Thru...
sea-thru-master.rar
01-21
《Improving Sea-Thru With Monocular Depth Estimation Methods》这篇论文是关于水下图像处理的，主要探讨如何利用单目深度估计技术改进“Sea-Thru”算法，以提高水下图像的透明度和视觉质量。在IT领域，尤其是在...
S参数转化为其他参数_S参数和其他参数的转化_
09-30
labview上可用于微波S参数与A、Z、Y参数的转化
网络分析仪基础Network Analyzer Basics
04-21
网络分析仪基础Network Analyzer Basics 包含很多射频的基础知识，很全面的一份文档
ADS-S参数仿真
03-02
ADS仿真第6章S参数仿真——提供具体仿真过程。
使用VNA（Vector Network Analyzer）对S参数进行去嵌（二）
小孟同学的博客
12-27 4646
无论是使用 EM 仿真工具创建的简化模型（如一段理想传输线）还是复杂模型用于测试夹具，现在都需要使用该 S 参数模型执行去嵌入过程。
记录一个AFR去嵌S参数异常的案例。
小孟同学的博客
07-13 1445
实测带夹具的S参数是A，MCIO夹具的2XTHRU 实测S参数是B，CEM夹具的2XTHRU 实测S参数是C，我们需要的就是A左侧减去B/2，右侧减去C/2之后的结果。
信号完整性验证结构
最新发布
jkh920184196的博客
08-19 842
在这种情况下，您有 1x 的迹线长度、可疑的迹线和通孔结构，以及另一个 1x 的迹线。通过从 2X 直通中去嵌入 1X，或从 3X 直通中去嵌入 2X 直通，您将得到一条长度为 1X 的隔离传输线。如果您有兴趣尝试 SI 相关的测量算法，您还可以使用此结构使用不同长度的两条线编写自己的 TRL 代码。重要的是，您可观察到的频带中有几个峰值和零点，因此请根据您拥有的 VNA 设计 Beatty 标准的长度。现在，您已经非常自信地确定了您的设计在电气性能方面的表现，以及设计图与成品的对比情况。
ADS(Advanced Design system)仿真去嵌De-Embedding【微波射频】
ywj1998的博客
10-23 5548
ADS(Advanced Design system)仿真最简单的去嵌De-Embedding【微波射频】
浅谈pcie硬件验证方案
weixin_43291134的博客
11-07 6553
介绍了pcie有源、无源通道的spec，基本验证方法
AFR去嵌入软件(替代是德科技，PLTS的AFR选件)
kuairedexiaoxiao的博客
04-04 1323
2、去嵌Deembedding S2P去嵌，S4P去嵌 (S2P去嵌入S4P, S4P去嵌入S4P)，单端2xthru的S2P文件分离出两个S2P后，对S4P去嵌，差分2xthru的S4P文件分离2个S4P文件，对S4P去嵌。提供软件工具，也可以提供SDK供调用，主要两个功能模块:1、AFR 2xthru分离(也支持Open Short) ，分离后的格式支持三种结构模式(PLTS,PNA,ADS)，单端差分都支持。
同一个过孔会有不同的阻抗？？？
edadoc2013的博客
10-15 877
作者：一博科技高速先生自媒体成员 黄刚 加工出来的PCB板子，两位高速先生队员进行板上的过孔阻抗测试，结果两人测试出来的阻抗差异很大，你能相信吗？ 这是一块带SMA同轴连接器的测试板，用于高速先生内部测试各种PCB的结构。其中我们做的2xthru去嵌走线的性能尤为重要，它决定着我们的去嵌精度。关于测试去嵌这一块的具体原理，高速先生之前已经有文章描述过了，这里就不再重复了哈。 PCB板回来后，师傅Chris分别让徒弟雷豹和唐牛来进行这块测试板的测试工作。过了没多久，Chris过去实验室看看雷豹..
thru-reflect-line去嵌法
11-20
thru-reflect-line是一种嵌入法（Embedding）技术，它是一种将一种语言或文化的元素嵌入到另一种语言或文化中的方法。这种技术可以用来传达一种语言或文化的特定思想、价值观和情感，从而促进不同文化之间的交流和理解。 thru-reflect-line去嵌法则是指使用这种嵌入法来打破文化隔阂，促进不同文化之间的交流和融合。通过去嵌法，我们可以在不同文化的语境中引入对方文化的元素，从而使双方更容易理解对方的文化特点，增进彼此的认知和尊重。 在全球化的今天，不同文化之间的交流和融合越来越频繁，而文化冲突也越来越突出。通过thru-reflect-line去嵌法，我们可以促进文化的相互理解和交流，消解误解和偏见，减少文化冲突的发生。 总之，thru-reflect-line去嵌法是一种重要的跨文化交流技术，它有助于促进不同文化之间的理解和交流，减少文化冲突，促进世界各国之间的和平与发展。通过这种方法，我们可以打破文化的壁垒，促进文化的多样性和包容性，为构建一个和谐世界作出贡献。
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