本文介绍了时序分析中的关键概念——模式，包括Function模式、Scan Shift、DC和AC Capture、At Speed MBIST、Boundary Scan、Macro Test以及IDDQ。这些模式在芯片设计和测试中扮演重要角色，确保功能正确性和检测潜在故障。
圣诞快乐
今天要介绍的时序基本概念是Mode（模式）. 这是Multiple Scenario环境下Sign off的一个重要概念。芯片的设计模式包括最基本的功能function模式，以及各种各样相关的测试模式。
PD的同学应该比较熟悉Function, Scan Shift, Capture, ASST这些模式。其实如果细分，这些还能划分出好多新的模式，如下图所示。这些名词可能你经常看见，但是你知道他们具体检测啥，有啥作用嘛？下面我就来分别简单介绍下这些模式。
Function
这个模式不用过多介绍，就是大家最常见的功能要求模式，即标准时序约束模式。
Scan Shift
这
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