4. DFT进阶——ATPG

ATPG  automatic test pattern generation

1. physical defects 

short and open 

drc escape 

具有多样性等特点  

不好测试，所以学术界提出了fault  model  概念，具体作用有 test generation   fault simulation

quality prediction     fault  diagnosis

除了测试还能具体分析芯片的covereage

fault model 定义：描述错误的行为

2.  fault model 种类

stcuk at  fault  model 注意和工艺无关

 

第2种 为 dealy  fault model

行为表征：比如100M 能工作，600M不能工作

delay  fault  model又分为两种  transition delay fault model 

path delay fault  model 

transition delay  faults ：slow to ri