4. DFT进阶——ATPG

最新推荐文章于 2024-07-24 21:22:38 发布
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分类专栏： DFT
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ATPG（Automatic Test Pattern Generation）是用于芯片测试的一种方法。它涉及物理缺陷，如短路和开路，以及学术界提出的故障模型概念，如stuck-at-fault模型和delay fault模型。通过fault simulation和test generation评估测试质量并进行故障诊断。主要使用的故障模型包括stuck-at-fault和transition delay fault。由于路径延迟故障模型计算复杂，目前主要使用前两者进行结构性测试向量生成。通过故障等价性简化，可以减少测试向量的数量。D算法是ATPG的核心，指导测试向量的生成，而fault simulation则用于验证这些向量的有效性。
摘要由CSDN通过智能技术生成

ATPG  automatic test pattern generation

1. physical defects 

short and open 

drc escape 

具有多样性等特点  

不好测试，所以学术界提出了fault  model  概念，具体作用有 test generation   fault simulation

quality prediction     fault  diagnosis

除了测试还能具体分析芯片的covereage

fault model 定义：描述错误的行为

2.  fault model 种类

stcuk at  fault  model 注意和工艺无关

 

第2种 为 dealy  fault model

行为表征：比如100M 能工作，600M不能工作

delay  fault  model又分为两种  transition delay fault model 

path delay fault  model 

transition delay  faults ：slow to ri

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DFT学习(三)：DFT 之 ATPG
叫好与叫座虽然不是对立面，但想在同一个作品中达到双重效果很难。
08-09 2721
我们讨论并介绍了 ATPG，它消除了我们在大型电路中生成test pattern的痛苦。然而，对于计算机来说，ATPG 仍然是一个缓慢而昂贵的过程。因此，在耗时的 ATPG 算法之前执行随机TPG，这对减少测试时间非常有利。在特殊情况下，如果可能有足够的故障覆盖率，我们可能需要合并一个不完整的 ATPG 算法。分支修剪之类的启发式方法在test pattern生成中也被证明是非常有效的。参考资料：http://www.ictest8.com/a/Principle/2022/04/atpg.html。
DFT学习(四)：DFT 之 ATPG（篇二）
叫好与叫座虽然不是对立面，但想在同一个作品中达到双重效果很难。
08-12 1243
一些专业术语例子: 第一个与门如果要把D forward 那么另一个port 一定要为1 或者d第2个与门输出的1 如果要向 backward 那么输入必须都为1。
小姜的ATPG学习笔记_TetraMax
Cloudriver_的博客
12-14 2778
上图所示为测试自动化生成方法，首先读入RTL代码进行综合，在综合的过程中利用DFT Compiler进行扫描单元替换，然后完成一步到位的综合，包括设计规则检查，测试综合验证，内核测试包装。构建过程完成后，TetraMAX会执行一个学习过程，您可以使用set learning命令来控制该过程。按照上述方法进行尝试后，warning不再是WORK相关，变成了新的，之前没有报过这个warning。，如锁相环模块、模拟模块、测试期间被旁路的模块或单独测试的模块，如RAM模块。解决了，在*后面加个空格就好了。
【SOC 芯片设计 DFT 学习专栏 -- DFT OCC 与 ATPG的介绍】
最新发布
CodingCos的博客
07-24 1202
OCC），片上时钟管理器，用于测试模式下管理clock的切换和pulse的产生。如下图1所示，当OCC主要有三种信号输入：快时钟，慢时钟以及控制信号，当控制使能信号（以Test Mode为例）Test Mode为1时，OCC开始工作，实现快慢时钟的切换。OCC通常具有三个功能：clock selection，clock chopping control，clock gate。
关于ATPG
weixin_42322256的博客
07-07 5671
对电路进行测试,首先要解决的就是测试生成的问题。测试生成就是针对于特定电路的给定故障, 生成相应测试向量的过程,该测试向量使得故障电路和正确电路的输出不同,该过程解决两个主要问题：........................
DFT 与 ATPG综 述
热门推荐
秋叶夏风的博客
01-13 1万+
DFT 可测试性设计 工程会接触 DFT。需要了解 DFT 知识，但不需要深入。 三种基本的测试（概念来自参考文档）： 边界扫描测试：Boundary Scan Test: 测试目标是 IO-PAD，利用 JTAG 接口互连以方便 测试。（jtag 接口，实现不同芯片之间的互连。这样可以形成整个系统的可测试性设计） 内建自测试 BIST:（模拟 IP 的关键功能，可以开发 BIST 设...
ATPG
weixin_44954910的博客
11-03 1945
更具体地说，工具给控制点分配一组值，使故障点与无故障状态具有相反的状态，所以，可以检测到故障值和无故障值之间的差异。例如，如果工具证明了故障冗余，可能会标记该故障为不可测，否则，将划分为潜在可检测故障，计算测试覆盖率时归类为不可测试故障。该程序从故障列表选择一个故障，创建检测故障的pattern，故障防战pattern，检查确保生成的pattern能检测到故障。ATPG的目的是创建一组patterns， 来达到给定的测试覆盖率，测试覆盖率是pattern集实际检测到的故障占可测试性故障的百分比。
Automatic Test Pattern Genaration(ATPG)
zhongrg的专栏
12-24 3789
 Automatic Test Pattern Genaration(ATPG)自动测试图形向量生成是在半导体电器测试中使用的测试图形向量由程序自动生成的过程。测试向量按顺序地加载与器件的输入脚上，输出的信号被收集并与预算好的测试向量相比较从而判断测试的结果。ATPG有效性是衡量测试错误覆盖率的重要指标。        一个ATPG的周期可以分为两个阶段：    1、测试的生成    2、测试的应
5. DFT进阶——ATPG delay testing
gaiyi8666的博客
07-01 3101
ATPG过程首先会进行DRC  check ，其中clock rulechecking 是比较重要的。 这是clock to d  问题 ，可以看出clk即作为时钟，也作为数据输入，当时钟的有效沿来的时候，数据如果发生跳变，这会工具不知道该采前面的值还是后面的值   ATPG setting     Dealy  testing 有两种方法 1.      single c...
ATPG user guide[tessent 2015]
09-11
ATPG user guide[tessent 2015]; Tessent scan and ATPG user Manual, version: 2015.2
tessent scan and ATPG User's Mannual (atpg_gd March 2019 )
04-11
2019 March 最新版,scan atpg文档。描述了scan atpg的操作flow，工具原理
tmax_ug.rar_ATPG_DFT_TMax
09-24
《TMAX ATPG & DFT User Guide》 在IT领域，自动测试模式生成（Automatic Test Pattern Generation, ATPG）和设计-for-test（Design-for-Test, DFT）是集成电路（IC）测试的重要组成部分，用于确保芯片功能的正确性...
DFT.rar_DFT
09-21
这个"DFT.c"程序可能采用了这种方法，或者可能是其他优化过的FFT算法，如Radix-2或Radix-4 FFT。 为了使用这个DFT程序，你需要将你的离散时间序列作为输入，程序会输出相应的频谱信息。理解DFT的原理和实现细节可以...
图1.dft
12-28
图1.dft
DFT中的SCAN、BIST、ATPG基本概念
weixin_42693865的博客
01-13 2453
BIST(Built-in Seft Test)内建测试，是DFT的一种技术。Automatic Test Pattern Generation (ATPG)是DFT（Design for Testability，可测试性设计）中常用的技术，用于自动生成测试向量。
ATPG Practice& ATPG Practice II
ciscomonkey的博客
12-03 3818
文章目录ATPG DRC 本博文是博主记录DFT实训教程的笔记版本，此笔记并没有对所有的知识进行记录，仅仅以自身的认知水平，来记录了一些部分笔记并加上了自己的理解. ATPG DRC scan chain tracing 第一步ATPG就是要去判断scan chain 的tracing，判断这个chain是否通畅。 如果发现不通，会报告S级别的violation。 只有chain能够正常工作了，后续的工作才有意义。这里的scanchain tracing主要是指的是shift里面能否正常的work。 Cl
cv2.dft()怎么用
03-13
cv2.dft()是OpenCV中的一个函数，用于进行离散傅里叶变换（DFT）。它的使用方法如下： 1. 首先，将图像转换为灰度图像，并将像素值缩放到0到1之间。 2. 然后，使用cv2.dft()函数对图像进行变换。该函数需要两个参数：输入图像和一个标志，用于指定变换的类型（正向或反向）。 3. 变换完成后，可以使用cv2.magnitude()函数计算幅度谱，并使用cv2.log()函数将其转换为对数尺度。 4. 最后，使用cv2.normalize()函数将幅度谱缩放到0到255之间，并将其转换为8位无符号整数。 示例代码如下： import cv2 import numpy as np # 读取图像 img = cv2.imread('image.jpg', 0) # 将像素值缩放到0到1之间 img_float32 = np.float32(img) / 255.0 # 进行DFT变换 dft = cv2.dft(img_float32, flags=cv2.DFT_COMPLEX_OUTPUT) # 计算幅度谱 magnitude = cv2.magnitude(dft[:, :, 0], dft[:, :, 1]) # 转换为对数尺度 magnitude = cv2.log(magnitude + 1) # 缩放到0到255之间 magnitude = cv2.normalize(magnitude, None, 0, 255, cv2.NORM_MINMAX, cv2.CV_8U) # 显示结果 cv2.imshow('Magnitude Spectrum', magnitude) cv2.waitKey(0) cv2.destroyAllWindows()
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