本文介绍了ASIC设计中的Design For Test (DFT)，强调了前端实施DFT的重要性，并详细讲解了scan design、Built-in Self-Test (BIST) 和 boundary scan等方法。讨论了scan操作流程、Partition Scan、Test Points以及Automatic Test Pattern Generation (ATPG) 的概念，涵盖了functional test、IDDQ和At-Speed test等测试类型。此外，还提到了scan architecture的不同类型以及Test Procedure Files和Model Flattening等技术。
Testability用来表征一个manufactured design的quality。
将testability放在ASIC前端来做，成为DFT(Design For Test)，用可控(controllable)可观(observable)来表征。
DFT的实现的两个大方向：ad hoc和structure。
1)ad hoc：利用良好的设计习惯，来保证testability。减少无关逻辑，异步逻辑，增加可控可查点。
2)structured：更加系统，自动的方法。包括三个方法：
scan design：需要改变内部时序逻辑。
Built-in Self-Test(BIST)：需要在器件中插入测试功能。
boundary scan：增加电路，来保证板级测试性。
其中bist和boundary需要在DC之前来做，scan design在DC之后做增量型编译。
bist逻辑中也需要scan design。
scan操作的流程：
1)使能scan mode；
2)打开scan clock，输入stimulus；
3)比较output，再关掉scan clock，来输入下一stimulus。
scan操作可以分为full scan和Partial scan。full scan的覆盖率最高而且ATPG容易产生，但是对面积和时序不友好。
Partition Scan：针对大型设计，从block的层次来进行scan设计，加入scan
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