需求思考
AI可以在以下环节提供帮助。
需求，策略，方案，编码，调试，确认
产品
Cadence Innovus Implementation System：一种高效的数字芯片设计工具，可以自动进行多种验证步骤。
Synopsys IC Compiler：一种用于高效数字芯片设计的自动化工具，可以在设计过程中实现自动验证。
Mentor Graphics Questa Verification IP：一种验证 IP（即可复用的验证组件），可以帮助芯片设计人员快速验证数字芯片的性能。
cadence
简介
Verisium AI-Driven Verification Platform
https://www.cadence.com/zh_CN/home/tools/system-design-and-verification/ai-driven-verification.html#verisium-manager
Cerebrus Machine Learning
https://registration.cadence.com/CadenceApplicationLoginScreen?appcode=cdotcom&langcode=en
Verisium AI-Driven Verification Platform
Verisium AI 驱动的验证平台
https://www.cadence.com/en_US/home/tools/system-design-and-verification/ai-driven-verification.html
总结
synopsys
简介
AI 赋能实现更快、 更好、 更高效的芯片验证
https://www.synopsys.com/content/dam/synopsys/verification/white-papers/ai-driven-verification-wp-simplified-chinese.pdf
DSO.ai
Achieve PPA Targets Faster with the World’s First AI Application for Chip Design
通过全球首个用于芯片设计的 AI 应用程序，更快地实现 PPA 目标
https://www.synopsys.com/ai/chip-design/dso-ai.html#
Synopsys is adding reinforcement learning across all its chip design tools in a bid to boost the productivity of designers.
Synopsys正在其所有芯片设计工具中添加强化学习，以提高设计人员的生产力。
New Horizons for Chip Design
芯片设计的新视野
https://blogs.synopsys.com/from-silicon-to-software/2023/03/22/ai-soc-design-verification-flow/
总结
Synopsys.ai includes: Synopsys.ai 包括：
Digital design space optimization to achieve power, performance and area (PPA) targets, and boost productivity (used in 100 production tape-outs by January 2023). (DSO.ai)
数字设计空间优化，以实现功耗、性能和面积 （PPA） 目标，并提高生产力（到 2023 年 1 月已用于 100 次生产流片）。（DSO.ai）
Analog design automation for rapid migration of analog designs across process nodes.
模拟设计自动化，用于跨工艺节点快速迁移模拟设计。
Verification coverage closure and regression analysis for faster functional testing closure, higher coverage and predictive bug detection.
验证覆盖率收敛和回归分析，以实现更快的功能测试收敛、更高的覆盖率和预测性错误检测。
Automated test generation resulting in fewer, optimized test patterns for silicon defect coverage and faster time to results.
自动生成测试，从而减少、优化的硅缺陷覆盖率测试模式，并加快获得结果的时间。
Manufacturing solutions to accelerate development of lithography models with high accuracy to achieve the highest yield.
制造解决方案，以高精度加速光刻模型的开发，以实现最高产量。
mentor
https://resources.sw.siemens.com/en-US/white-paper-a-survey-of-machine-learning-applications-in-functional-verification?gclid=Cj0KCQjw2qKmBhCfARIsAFy8buKOLrrqUh-hL4DnpVmyQoIZsAb89lMSS2J4mqQdtHc2Puy-ys8xTU0aAgnVEALw_wcB&gad=1
AI for Chip Design Verification
用于芯片设计验证的 AI
https://www.eeweb.com/ai-for-chip-design-verification/
论文：
论文
“Verification of Digital Circuits using Machine Learning”：一篇介绍了使用机器学习技术进行数字芯片验证的研究论文。
“Efficient Verification of Digital Circuits using Deep Neural Networks”：一篇介绍了使用深度神经网络技术进行数字芯片验证的研究论文。
“A Survey of Machine Learning Techniques for Digital Circuit Verification”：一篇介绍了机器学习在数字芯片验证领域的应用的综述论文。
20243.4-2024.3.7
Machine Learning Based Verification Planning Methodology Using Design and Verification Data
使用设计和验证数据的基于机器学习的验证规划方法
https://dvcon.org/presenter/machine-learning-based-verification-planning-methodology-using-design-and-verification-data/
Optimizing Design Verification using Machine Learning
使用机器学习优化设计验证
https://dvcon-proceedings.org/document/optimizing-design-verification-using-machine-learning/
Machine Learning Applications in Electronic Design Automation
机器学习在电子设计自动化中的应用
https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-031-13074-8?page=1#toc
该书的主要内容包括:
简介:概述EDA中的机器学习应用现状、技术发展趋势等。
EDA任务与机器学习技术匹配:讨论不同EDA任务与不同机器学习方法的匹配关系。
电路设计与仿真:介绍在电路建模、解析、仿真等方面的机器学习应用。
布局设计:讨论机器学习在布局设计自动化、布局参数优化等方面的应用。
验证与测试:描述应用机器学习进行自动化验证、压力测试、延迟预测等。
计算机辅助设计工具:探讨融入机器学习改进EDA工具的方法。
新型器件与技术:基于机器学习实现新型器件的建模与优化。
结果分析与最佳实践:对不同应用进行效果分析,提供实践建议。
展望:讨论EDA领域机器学习应用的发展前景与挑战。
芯片验证中的机器学习，走到哪了？
文章
https://mp.weixin.qq.com/s/YhF47QkAWxODi5X3_CLuGA
添加链接描述
总结
对该链接中的内容进行总结如下:
- 芯片验证耗时长,机器学习在其中应用广泛
芯片设计验证占用设计工程师近一半的时间。功能验证本身计算和数据密集,因此机器学习在其中应用广泛。 - 机器学习在验证的主要应用领域
包括需求工程、静态代码分析、验证加速、覆盖率收集和Bug检测等。 - 需求工程方面
用于将自然语言需求转换成标准化验证规范,以及将代码翻译成自然语言提升可读性。 - 静态代码分析方面
用于代码质量评估和辅助编码。 - 验证加速方面
包括Formal验证的资源调度和Simulation验证的行为建模。 - 覆盖率收集方面
生成更有效的测试用例,提升覆盖率收集速度。 - Bug检测方面
预测、分类bug并提供修改建议。 - 机器学习技术发展
大模型语义理解能力强,图神经网络可以表示验证的复杂关系。 - 应用面临的挑战
训练数据不足,模型泛化能力有限,计算资源成本高。 - 结论
机器学习在验证中应用前景广阔,目前与产业应用还有一定差距。
机器学习算法增强功能验证过程研究综述
文章
Survey on Machine Learning Algorithms Enhancing the Functional Verification Process
机器学习算法增强功能验证过程研究综述
https://www.mdpi.com/2079-9292/10/21/2688
添加链接描述
总结
本文其余部分的结构如下。第2节介绍了拟议工作中遵循的方法，显示了收集、组织和综合文献中现有知识的方法。在第 3 节中，介绍了不同的 ML 模型以及它们旨在解决的问题的描述。重点介绍了该领域不同领域巨大潜力的研究工作。第 4 节演示了将 ML 纳入验证过程的早期工作，重点介绍了使用的关键模型。在第5节中，讨论了功能验证过程的五个关键阶段的当前研究工作：激励和测试生成，覆盖率收集，错误检测，模拟建模和断言生成。第 6 节展示了一组采用神经网络模型生成刺激的选定研究的比较，为读者提供了 ML 在验证环境中影响的概述。在第7节中，强调了文献中可以在未来研究中解决的开放挑战。最后，结束语和未来的见解在第8节中介绍。
Optimizing Design Verification using Machine Learning: Doing better than Random
https://arxiv.org/ftp/arxiv/papers/1909/1909.13168.pdf
对这篇论文“Optimizing Design Verification using Machine Learning: Doing better than Random”的内容进行概括总结如下:
随着集成电路规模和设计复杂度的增加,功能验证变得越来越困难。
传统的验证方法无法在有限时间内覆盖所有的功能组合。采用限制随机验证可以一定程度提高覆盖率,但需要大量人工工作进行调整。
本文提出了一种利用机器学习来自动优化验证环境的方法。该方法可以在功能覆盖率上取得比随机验证更好的结果。
方法把随机验证的输入参数和对应的覆盖率结果作为样本,输入神经网络进行训练。训练好的模型可以预测输入参数组合来提高覆盖率。
在缓存控制器和RISC-V处理器的两个案例实验中,该方法在很少的迭代后就可以显著提高覆盖率指标。
结果表明,该机器学习方法可以自动高效地优化设计验证,缩短验证时间,适用于复杂的集成电路设计。
该方法不仅可用于硬件验证,也可扩展到软件验证等其他领域。
机器学习驱动的验证是应对验证复杂性增长的可行路径,值得进一步研究和应用。
开源项目
AI与数字芯片实验
相关算法
常见AI算法列表
| 算法名称 | 算法类型 | 主要应用 | 代表性模型 |
|---|---|---|---|
| 卷积神经网络 | 图像处理 | 图像分类,目标检测等 | LeNet, AlexNet, VGGNet |
| 递归神经网络 | 序列建模 | 语音识别,NLP等 | LSTM, GRU |
| 生成对抗网络 | 生成模型 | 图像生成,语音生成等 | DCGAN, CycleGAN |
| 强化学习 | 决策与控制 | 游戏AI,机器人控制等 | DQN, PPO |
| 迁移学习 | 多任务学习 | 计算机视觉,NLP等 | BERT, ResNet |
| Transformer | 注意力机制 | 机器翻译,文本生成等 | GPT, BERT |
| 图形神经网络 | 图运算 | 社交网络,推荐系统等 | GCN, GraphSAGE |
上面表格的算法，如果用在数字芯片验证中，可以用在具体的哪方面
W
好的,针对上表中提到的算法,在数字芯片验证中的潜在应用如下:
卷积神经网络:可用于识别芯片布线、布局等图形结构,辅助检查设计规范。
递归神经网络:可用于建模复杂的仿真仿真过程,帮助优化验证顺序。
生成对抗网络:可用于找到更难的边界用例,辅助测试用例生成。
强化学习:可训练智能代理找出设计漏洞,辅助错误注入和调试。
迁移学习:可利用已有模型快速训练针对新芯片的模型,提高验证效率。
Transformer:可建模代码和验证过程的语义,帮助自动生成验证环境。
图形神经网络:可分析模块间连接关系,辅助安全性和一致性验证。
简单来说,这些AI算法可广泛应用于芯片设计和验证流程的各个方面,包括用例生成、仿真优化、调试提速、规范检查等,都可以利用AI提供智能化支持。
数字芯片验证中可以采用哪些机器学习算法
Q： 数字芯片验证中，可以采用哪些机器学习算法，来提高效率，请列举一张表格
| 任务 | 适用算法 | 作用 |
|---|---|---|
| 测试用例生成 | 强化学习、GAN | 更全面、边界的用例 |
| 仿真加速 | DNN、CNN | 模型抽象,加速仿真 |
| 覆盖率分析 | 随机森林、SVM | 分析不足,指导用例设计 |
| Bug根源分析 | 聚类、降维等 | 快速定位验证Bug |
| 验证优化 | 强化学习 | 自动化流程、参数优化 |
| 布线检查 | 计算机视觉 | 检测布线规范违反 |
| 报告生成 | 自然语言处理 | 自动化报告summaries |
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