MOS选型及其参数解析

背景:

整理现有常用元器件选型,日后使用时针对性观看,生成列表链接如下:

https://blog.csdn.net/caozhaokun/article/details/126069701

                                                                           作者:Cayden   时间:2024/05/26

一、MOS选用现状

MOS是电路设计中常用的元器件之一,选型时会发现有很多参数,是不是不知道如何挑选参数,好了,下面我们看看如何正确选择。

二、MOS管主要参数

VDSS:漏源极之间允许的最高电压。

        //如果超过这个电压,MOS会处于击穿区,损坏;

ID:漏源极之间允许通过对最大电流。

        //如果超过这个极限值,MOS会处于击穿区,损坏;

PD:MOS的漏源极之间的功率最大值。

        //如果超过这个极限值,MOS会处于击穿区,损坏;

RDS(on):MOS管导通时,漏源极之间电阻。

        //这个参数越小越好,损耗低,不然MOS管发热烫手,消耗功率高,降低后级使用能量。

VGS(th):MOS的开启电压。

        //VGS≥VGS(th),DS之间的通道生成,虽然薄,但是能够逐步通电流ID

        //该参数是负温度系数,也就是温度上升后,原VGS(th)=1.5V,那么温度上升后,

        //VGS(th)=1.2V,会增加误触发可能,可采用电阻分压,也可使用稳压二极管钳位保护。

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