书籍:《炬丰科技-半导体工艺》
文章:氧化硅、氮化硅薄膜的成分分析
编号:JFKJ-21-263
作者:炬丰科技
摘要
利用NH3/SiH4气体混合物,采用等离子体增强化学气相沉积平行配置在多晶体硅(mc-Si)上生长氢、非晶态氮化硅。二次离子质谱学采用Rutherford背散射光谱(R
书籍:《炬丰科技-半导体工艺》
文章:氧化硅、氮化硅薄膜的成分分析
编号:JFKJ-21-263
作者:炬丰科技
摘要
利用NH3/SiH4气体混合物,采用等离子体增强化学气相沉积平行配置在多晶体硅(mc-Si)上生长氢、非晶态氮化硅。二次离子质谱学采用Rutherford背散射光谱(R