CRG、CCO是什么

简单了解一下DFT知识：
主要有三种基本测试：

1， 边界扫描测试（boundary scan test）：测试目标是IO-PAD，利用jtag接口互联以便测试。

2， BIST：测试MEM，MBIST。

3， 扫描测试（APTG）：测试目标std logic。

OCC

OCC = on-chip clock
用来做DFT测试，基本原理是在 scan shift 模式下， 选通慢速的ATE 时钟，load 或 unload 扫描链； 在 capture 模式下，对 free-running PLL clock 过滤筛选出 lauch 和 capture clock 进行at-speed 测试。

全速测试就是让芯片工作在自己高倍时钟频率上，这个频率往往是要高过ATE的时钟的。OCC就实现此功能。

CRG

CRG = clock reset generation

是芯片中的时钟复位产生电路

出于时钟复位结构规范设计和DFT可控的目的，一般会把相关电路放在一个集中的模块中管理，由专门的设计人员按需求进行设计与维护。

对于时钟分频、MUX、切换、DFT测试结构埋入等等，均在模块内部实现。复位类似。
block level的designer只需要从CRG取所需时钟和复位信号，按规则使用即可，不需要了解详细的实现。