DRAM知识整理系列(三):部分时序参数整理

 

目录

一、时序参数整理

第一时序:

1、tCL - CAS Lantency Control

2、tRCD - RAS to CAS Delay

3、tRP - Row Precharge Timing

4、tRAS - RAS Active Time

第二时序:

5、CWL - CAS Write Latency

6、tRC - Row Cycle Time

7、tRFC - Row Refresh Cycle Time

8、tRRD - Row to Row Delay

9、tWR - Write Recovery Time

10、tWTR - Write to Read Delay

11、tREF - Refreshh Period

12、tFAW - Four Active Window 

13、tCCD - CAS to CAS Delay


一、时序参数整理

内存是根据列寻址的,当请求触发后,最初是tRAS(Active to precharge Delay),预充电后,内存才真正开始初始化RAS(Row Address Strobe)。一旦tRAS激活后,RAS开始进行需要数据的寻址。首先是行地址,然后初始化tRCD(RAS to CAS Delay),周期结束,接着通过CAS(Column Address Strobe)访问所需数据的十六进制地址。其中,从CAS开始到CAS结束,就是CAS延迟(即tCL)。所以CAS是找到数据的最后一个步骤,(tCL)也是内存参数中最重要的。

第一时序:

1、tCL - CAS Lantency Control

tCL(CAS Lantency Control):内存读写操作前列地址控制器的潜伏时间,一般单位为tCK(即:单位时钟周期)

  • CAS 控制从接受一个指令指令执行之间的时间。
  • 因为 CAS 主要控制十六进制的地址,或者说是内存矩阵中的列地址,所以它是最为重要的参数,在保持稳定的前提下应该尽可能设低。
  • 对内存读写性能影响最大。

具体时间计算公式:tCL(ns) = (CL * 2000) / 内存频率

如:DDR3-1333-CL9。tCAS =  (9 * 2000) / 1333 = 13.5(ns)

 

2、tRCD - RAS to CAS Delay

tRCD(RAS to CAS Delay,又可以称为:Acitve to CMD):行寻址到列寻址延迟时间,一般单位为tCK(即:单位时钟周期)

  • 对内存进行读、写或刷新操作时,需要在这两种脉冲信号之间插入延迟时钟周期。
  • 在JEDEC规范中,它是排在第二的参数,降低此延迟,可以提高系统性能。
  • 如果内存的超频性能不佳,可以将此值设置成内存默认值或者提高tRCD的值。
  • 对内存最大频率影响最大

 

 

3、tRP - Row Precharge Timing

tRP( Row Precharge Timing,又可以称为:Precharge to Active):内存行地址控制器预充电时间,一般单位为tCK(即:单位时间周期)

  • tRP用来设定在另一行能被激活之前,RAS需要的充电时间。
  • tRP参数太长会导致所有的行激活延迟过;设置太短可能会导致行激活之前的数据丢失,内存控制器不能顺利地完成读写操作。

 

4、tRAS - RAS Active Time

tRAS(RAS Active Time,又可以称为:Active to Prechage Delay) :内存行有效至预充电的最短周期

  • 如果tRAS等待周期太长,系统会因为无意义的等待而降低性能。若tRAS等待周期太短,则会导致已被激活的行地址会更早的进入非激活状态,这样可能会因为缺少足够的时间而无法完成数据的突发传输
  • tRAS的值一般设置为  tRAS(推荐)= tCL + tRCD + tRTP
  • 为提高系统性能,应尽可能降低tRAS的值,但是如果发生内存错误或系统死机,则应该增大tRAS的值。

 

第二时序:

5、CWL - CAS Write Latency

CWL(CAS Write Latency):列地址写入延迟,与CL刚好是读写对应关系。

  • 一般与CL设置同一个值是可以稳定的。(即 CWL = CL 一般可以稳定)
  • Controller 在发送完Write Command后,需要等待tCWL时间后,才可以发送写入的数据。

 

6、tRC - Row Cycle Time

tRC( Row Cycle Time):定义了同一bank两次行激活命令所间隔的最小时间,或者说是一个bank中完成一次行操作周期(Row Cycle)的时间

  • 计算公式:tRC  = tRAS + tRP
  • tRC过长会导致无意义的延时等待,降低性能;tRC过短,情况和tRP过短情况差不多,在会导致被激活的行单元被充分充电之前,新的周期就被初始化了,这样会导致数据丢失和损坏。

 

7、tRFC - Row Refresh Cycle Time

tRFC(Row Refresh Cycle Time):SDRAM行刷新周期时间,它是行单元刷新所需要的时钟周期数或者是纳秒(ns)。定义了一个bank中行地址刷新所需要的时间,容量大的bank行地址和cell单元会更多,刷新时间更长,因此tRFC也要更高。

在AMD平台的tRFC是DRAM刷新延迟时间,单位是ns,通常有90/110/160/300几个值可以调整,也就是说它的tRFC时钟周期会随着频率的提升而提升。

Intel平台的单位则直接是时钟周期,相反地延迟时间会随着频率的提升而降低。容量大的bank行地址和cell会更多,刷新时间也更长,因此tRFC也要更高。

  • 该值表示行地址刷新所需要的时间。
  • tRFC的值越小越好,它比tRC的值要稍高一点。
  • tRFC的值与内存容量密度工作频率有关。

 

8、tRRD - Row to Row Delay

tRRD(Row to Row Delay):行单元到行单元的延时。

  • 该值还表示向相同bank中的 同 一个行单元两次发送激活指令(即:REF)之间的时间间隔。
  • tRRD的值越小越好,延迟越低,表示下一个bank能更快地被激活,进行读写操作。然而如果延迟太短,会引起连续数据膨胀。
  • tRRD_S表示不同bank,tRRD_L表示相同bank

 

9、tWR - Write Recovery Time

tWR(Write Recovery Time):写恢复延时(即:写完数据后,到预充电命令前的延时)

  • 该值说明在一个激活的bank中完成有效的写操作以及与预充电前,必须等待多少个时钟周期。这段必须的时钟周期,用来确保在预充电发生前,写缓冲中的数据可以被写入内存单元中。
  • 较低的tWR可以提高系统性能,但可能导致数据还未完全正确写入内存单元,就发生了预充电操作,导致数据的丢失和损坏。

 

10、tWTR - Write to Read Delay

tWTR(Write to Read Delay):写到读延时(即:最后的数据进入读指令)

  • 该值表示的是,DDR内存模块中的同一个单元中,在最后一次有效的写操作和下一次读操作之间必须等待的时钟周期
  • 增加tWTR的值,可以让内容模块运行比其默认速度更快的速度下;减小tWTR的值,可以提高读性能,但会降低系统稳定性。
  • tWTR_S表示不同bank,tWTR_L表示相同bank

 

11、tREF - Refreshh Period

tREF (Refreshh Period):刷新周期,它指的是内存模块的刷新周期。(一般为微秒,us)

  • tREFI 指的是平均刷新间隔。从原理上看,DRAM存储单元基于一个电容,64ms是电容的放电时间。DRAM是按照行列组织的,执行一个刷新命令会把某行上所有的存储单元(电容)充电。换句话说,如果DRAM有8192个行,那么就需要在64ms之内执行8192次刷新操作(64 ms /  8192 = 7.81us),无论是摊开平均执行,还是集中突发执行。DDR3允许突发执行8个刷新操作——你既可以先突发执行8个刷新操作,然后等上9*tREFI时间啥事都不干;或者你先发呆9*tREFI时间,然后突发执行8个刷新操作。总之就是要记住,DRAM每行上面的存储单元一定要在64ms之内得到刷新。
  • tREFI 的值与 容量密度还有工作温度有关。

 

12、tFAW - Four Active Window 

tFAW(Four Active Window):它定义了一个rank中允许同时发送大于4个bank行激活的命令的间隔时间

  • tFAW  >=  4 * tRRD
  • 由于tFAW是在一个rank中大于4个bank同时激活之后才生效的,所以在内存不是很繁忙的时候,它对性能的影响并不是很大。但是对一些频繁读写内存的操作,tFAW对性能的影响可能会加大 。

 

13、tCCD - CAS to CAS Delay

tCCD(CAS to CAS Delay):CAS命令到CAS命令之间的时间间隔

<think>嗯,用户之前问过硬件测试的面试题,现在又接着问模拟和数字电路的面试要点。看来他可能在准备硬件工程师或者相关职位的面试,需要覆盖更广泛的电子知识。我需要先确定模拟和数字电路的关键知识点,哪些是面试常问的内容。 首先,模拟电路部分,基本元件比如电阻、电容、电感的作用和应用场景肯定重要。然后放大器电路,比如运算放大器的常见配置,比如反相、同相放大器,还有比较器、滤波器这些。稳定性分析,比如反馈、波特图、相位裕度,这些也是常考点。噪声分析,热噪声、信噪比这些概念,以及如何降低噪声的方法,比如屏蔽、滤波。电源设计,LDO和开关电源的区别,纹波和效率的问题,可能也会被问到。 接下来是数字电路部分,逻辑门的基本特性和真值表,组合逻辑电路如译码器、多路复用器,时序逻辑电路的触发器、锁存器,建立和保持时间的问题,亚稳态如何处理。存储器方面,SRAM、DRAM的区别,时序分析中的时钟抖动、偏移。接口协议比如I2C、SPI、UART的异同点,可能也会涉及FPGA和Verilog/VHDL的基础知识。 混合信号设计部分,AD/DA转换的关键参数,采样定理,PCB布局中的接地和隔离技巧,EMC问题如何处理。这些可能在实际应用中比较重要,特别是混合信号系统的设计。 常见问题方面,竞争与冒险现象,如何消除;同步和异步复位的区别;低功耗设计的方法,比如时钟门控、电源关断;信号完整性的影响因素,比如阻抗匹配、串扰。这些都是面试中可能会深入讨论的问题。 另外,项目经验部分,用户可能需要准备具体的例子,展示他们如何应用这些知识解决实际问题。动手能力方面,焊接、仪器使用、仿真工具如SPICE、ModelSim的经验也很重要。 用户之前问的是硬件测试,现在转向电路设计,可能他的职位需要兼顾测试和设计,或者他想全面准备。需要确保回答涵盖理论和实践,既包括基础概念,也有实际应用和问题解决的方法。 可能用户还想知道如何组织答案,比如在解释放大器电路时,不仅要说出类型,还要比较它们的特点和应用。在数字电路部分,建立和保持时间的问题可能需要举例说明。同时,混合信号设计中的接地策略,比如星型接地或分割地平面,这些实际技巧也是重点。 需要提醒用户注意,除了理论,面试官可能更关注实际应用和问题解决能力,所以结合项目经验回答会更好。此外,准备一些常见的面试题,比如竞争与冒险的解决方法,或者如何降低功耗的具体措施,可以帮助用户更好地应对技术问题。 最后,检查是否有遗漏的重要点,比如FPGA设计流程,或者常见的接口协议细节,确保覆盖模拟和数字电路的核心内容,帮助用户系统化准备面试。</think>以下是模拟电路和数字电路相关的常见面试要点及考察方向,整理供参考: --- ### **一、模拟电路面试要点** #### **1. 基础元件与电路分析** - **电阻、电容、电感的作用**:滤波、储能、耦合、阻抗匹配等场景。 - **二极管和极管特性**:正向导通电压、放大区/饱和区/截止区条件、BJT与MOS管区别。 - **放大电路**:共射、共基、共集放大器的特点,偏置电路设计(如分压式偏置)。 #### **2. 运算放大器(Op-Amp)** - **理想运放特性**:虚短、虚断原理。 - **典型电路**: - 反相/同相放大器、电压跟随器、差分放大电路。 - 比较器(含滞回比较器)和积分/微分电路。 - **稳定性问题**:相位裕度、波特图分析、如何补偿(如米勒补偿)。 #### **3. 滤波器设计** - **类型区分**:低通、高通、带通、带阻滤波器。 - **有源 vs 无源滤波器**:优缺点对比(如增益、功耗、负载影响)。 - **关键参数**:截止频率、Q值、滚降斜率(如巴特沃斯/切比雪夫滤波器)。 #### **4. 噪声与电源设计** - **噪声类型**:热噪声(约翰逊噪声)、1/f噪声、信噪比(SNR)计算。 - **电源设计**:LDO与开关电源(DC-DC)的区别、纹波抑制方法。 --- ### **二、数字电路面试要点** #### **1. 组合逻辑与时序逻辑** - **基本逻辑门**:AND、OR、NOT、XOR的真值表及电路实现。 - **组合逻辑电路**:译码器(Decoder)、多路复用器(MUX)、加法器设计。 - **时序逻辑电路**: - 触发器类型(D触发器、JK触发器)及特性(边沿触发 vs 电平触发)。 - 锁存器与触发器的区别(如抗毛刺能力)。 #### **2. 时序分析** - **建立时间(Setup Time)和保持时间(Hold Time)**:定义、违例后果及解决方法(如调整时钟周期、插入缓冲器)。 - **亚稳态(Metastability)**:成因、同步器链(两级触发器)的作用。 #### **3. 存储器与接口** - **存储器类型**:SRAM vs DRAM(结构、速度、功耗对比)。 - **接口协议**: - I2C、SPI、UART的差异(如线数、速率、主从模式)。 - 高速接口(如PCIe、USB)的常见问题(眼图测试、阻抗匹配)。 #### **4. FPGA与HDL基础** - **FPGA设计流程**:综合、布局布线、时序约束。 - **Verilog/VHDL语法**:阻塞赋值(`=`)与非阻塞赋值(`<=`)的区别。 --- ### **、混合信号设计相关** 1. **ADC/DAC关键参数**:分辨率、采样率、信噪比(SNR)、积分非线性(INL)。 2. **PCB布局注意事项**: - 模拟与数字地分割(单点接地 vs 分割地平面)。 - 高频信号走线(避免直角、阻抗控制)。 3. **EMC/EMI问题**:如何抑制开关电源的传导噪声? --- ### **四、常见面试问题示例** 1. **竞争与冒险(Race Condition)是什么?如何消除?** - 答案:信号因延迟导致逻辑错误;可通过插入冗余逻辑或时钟同步解决。 2. **同步复位和异步复位的区别?** - 答案:同步复位依赖时钟边沿,异步复位即时生效但可能产生亚稳态。 3. **如何降低数字电路的功耗?** - 答案:门控时钟(Clock Gating)、电源门控(Power Gating)、动态电压频率调整(DVFS)。 4. **信号完整性差的表现及解决方法?** - 答案:振铃、过冲;需端接匹配、优化走线长度。 --- ### **五、加分项** - **项目经验**:结合实际项目说明如何解决电路设计问题(如低噪声放大、高速PCB设计)。 - **动手能力**:示波器/逻辑分析仪调试技巧、焊接与电路调试经验。 - **仿真工具**:SPICE(模拟仿真)、ModelSim(数字仿真)、Cadence/PADS(PCB设计)。 --- ### **准备建议** 1. **重点复习基础公式**:如放大器增益计算、RC时间常数、CMOS功耗公式(P=CV²f)。 2. **画图能力**:面试时可能需要手绘电路图(如反相放大器、D触发器)。 3. **理解设计折衷**:如速度 vs 功耗、精度 vs 成本等场景的权衡。 希望这些内容能帮助你系统梳理知识点,面试时结合理论和实践回答会更深入!
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