一、CT系统成像的理论基础
1、CT成像的原理
基于CT系统的高质量X射线投影数据的获取,不仅取决于可靠的X射线衰减过程,还取决于探测器成像过程。探测器成像过程是将不可见的X射线转换为可供显示的数字信号的过程。其中涉及X射线与物质的相互作用以及探测器的转换原理。
CT成像是建立在常规的射线成像法基础上,利用X射线在不同角度对检测样本透射的衰减投影图像,采用一定的数学方法,例如滤波反投影法、代数法或统计法进行图像重建,恢复出检测样本的断层图像信息。
X射线穿过任何物质时,它会与物质的原子相互作用而引起能量衰减。也就是说,物质不同的组成成分对X射线具有不同的吸收系数;反之,通过测量物质对X线的吸收系数可以判定物质的组成成分。当一束X射线穿过物体时,它所经路径中所有物质对X线吸收系数的总和都将反映在最后对X射线强度的测量结果中。
CT成像原理正是建立在这个基础上,通过对穿过物体截面的X描线进行测量和运算,获取与物体体层空间位置一一对应的吸收系数从而恢复物体截面的结构信息。由CT成像原理可知,X射线的衰减规律和X射线与物质的相互作用规律是CT成像系统的理论基础。
2、CT系统的结构
工业CT装置通常由射线源、机械扫描系统、探测器系统、计算机系统、屏蔽设施等部分组成。
射线源提供CT扫描成像的能量射束,以穿透试件,根据射线在试件内的衰减情况实现以各点的衰减系数表征的CT图像重建。与射线源紧密相关的射线前后准直器及射线控制系统,用以射线强度、射线能量、射线形状的调节。
机械扫描系统实现CT扫描时,试件的旋转或平移以及射线源一物体一探测器之间物理位置的相对调整。它包括机械驱动轴、试件转台、各种支架、底座、移动控制系统(电机、编码器、伺服放大器、位移控制板等)。
探测器系统用来测量穿透试件后的射线信号,经放大和模数转换