试题 基础练习 芯片测试

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问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

代码：

#include<iostream>
#include<set>
using namespace std;

const int N = 1e5 + 10;
#define IOS ios::sync_with_stdio(false); cin.tie(0); cout.tie(0)//IOS 提升cin cout 速度

int main()
{
    IOS;
    int n;
    cin >> n;
    set<int> fal;
    int c[n + 1][n + 1];
    for(int i = 1; i <= n; i++)
    {
        for(int j = 1; j <= n; j++)
        {
            cin >> c[i][j];
        }
    }
    for(int j = 1; j <= n; j++)
    {
        int cnt = 0;
        for(int i = 1; i <= n; i++)
        {
            if(c[i][j] == 0) cnt++;
        }
        if(cnt > n / 2) fal.insert(j);
    }
    set<int>::iterator it;
//    for(; it != fal.end(); it++)
//    {
//        cout << *it << " ";
//    }
//    cout << endl;
    for(int i = 1; i <= n; i++)
    {
        bool f = 1;
        it = fal.begin();
        for(; it != fal.end(); it++)
        {
            if(i == *it) f = 0;
        }
        if(f)
            cout << i << " ";
    }
    return 0;
}