JFMRS01RH调试记录

调试情况

        主要使用JFMRS01RH完成对FPGA芯片的重载和刷新。JFMRS01RH与fpga通过SelectMap接口连接，外挂两片256K的串行flash。

        JFMRS01RH芯片内部寄存器配置方式有两种，一种是硬件引脚配置，另外一种是通过UART串口配置，在芯片的外部晶振频率为10M的情况下，串口的波特率是115200。若希望通过串口配置，需要将SEL_UART_WP寄存器写0，使串口配置有效。当串口和引脚均有配置时，串口配置的优先级更高。

调试步骤

        功能测试

        官方给了上位机程序，首先确保应交连接后，将串口设置波特率为115200，数据位8位，停止位1位，校验位一定要选择奇校验或者偶校验。这个要看你默认引脚配置的情况，使用其他串口助手的时候不能忘记配置校验位，否则会出错。

        串口连接成功后，设置sel_telemetry 设置为 1，即自动返回信息。等一小段时间后会收到芯片返回的各个寄存器的数值以及状态值，如果没有返回，检测串口设置是否正常，硬件连接是否正确以及串口有无干扰。

        以下可自行测试，更改寄存器的数值然后与返回的遥测值进行对比验证是否功能正常。

        擦除测试

        外挂flash烧写程序的第一步应该先将flash进行擦除。flash擦除时建议将自己的配置提前设置好，比如提前将sel_per寄存器设置为不自动重载，sel_mode设置为不刷新。sel_flash类型设置好，一定不要设置错误，否则会失败。sel_flash_wp写1，关闭写保护才可以对flash进行擦写操作。准备工作做完后，即可在上位机点击全片擦除指令，观测遥测状态，flash的状态应显示忙。官方有说法会在忙与空闲中来回切换，但笔者测试一直显示忙。等状态变为空闲时代表flash擦除完成，通过上位机进行数据会读，可以观察到flash的数据应全为FF。

        烧写测试

        烧写程序需要准备VIVADO导出的rbt文件，此时应当注意这个文件正常会是bin/bit文件的8倍，在生成比特流文件的时候不可以使用比特压缩，官方说使用压缩后的文件会出错。将rbt文件导出后使用上位机软件进行重构，可以按照要求进行拼接分割等操作。这一步骤其实就是在rbt文件的最后加上了数据的CRC校验字节。

        随后可以安装上位机以及文档指导进行rbt文件的选择、读取，flash类型选好，就可以执行编程的操作。该过程耗时较长，需要耐心等待。等待完成后进行CRC校验，结束地址应为烧写的rbt文件的bit数/2-1（16进制）。

第一个问题

        遇到的第一个问题是串口测试功能一切正常，但就是执行不了擦除指令以及编程指令，数据回读到的全是0。

        分析：首先检查指令是否通过串口下发。然后观测芯片与flash的接口是否产生对应的读写信号，笔者测试确实产生了信号，排除了flash坏了的原因，最终发现芯片与flash接口的连接出现了小错误，更改连线后重新测试正常。

第二个问题

        程序采用串口配置成功烧写进程序并且进行了重载以及刷新操作，但是断电后重新上电发现程序重载失败。

        分析：芯片的寄存器配置是否有硬件连接直接进行配置，如果该配置与串口配置的不一样，可能上电重启的时候硬件引脚更改了配置导致重载失败。发现硬件配置出了小问题，更改后结果测试正常。

 第三个问题

        程序成功烧写进去而且其他功能正常，但是执行CRC校验的时候一直出错，排查地址填错的原因，最终官方回答，国外的fpga芯片在烧写rbt文件时要将最开始的全FF状态只保留一行，之后进行CRC校验才不会出问题。

        手动更改rbt文件进行重新烧写后执行CRC校验后测试正常