TOF-SIMS测试常见的问题及解答(一)

本文详细解答了TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱)测试中遇到的问题,包括成分分析、样品处理、质谱软件、界面定位、元素含量测定、样品制备要求等方面。涉及的内容包括金属合金的氧化层测试、电池负极测试、肝脏组织的制样方法、氢含量分析、分子离子识别以及不同类型的SIMS技术对比。
摘要由CSDN通过智能技术生成

1.成分些微改性需要一点点对两个谱峰以解谱吗?

回复:些微改性,图谱上应该有变化,比如谱峰的出峰位置(离子不同,对应质量数不同),或谱峰峰强比会有变化;具体情况具体分析;

2.电池锂负极测试怎么处理?

回复:手套箱里拆出来剪小,通过样品传送管制备样品以及保护传送样品;

3.如何进行质谱分析呢?软件是专用的?

回复:软件是专用的;

4.老师好,肝脏组织如何制样放进去?

回复:储存在冷冻条件下。采用冷冻显微薄片切片机在冷冻条件下制备截面样品,解冻固定在导电(ITO)玻片上并储存在 -80°C条件下,直到分析。分析前约15分钟,组织部分干燥,并放入干燥器中至常温。

5.氢含量较高可以分析吗?

回复:可以分析

6.怎么确定界面的位置呀?

回复:两层采用其特征离子表征,看深度曲线的变化,曲线强度值拐点最高到最低的范围,20%-80%之间都可以设定为界面的位置。

7.膜层H的含量分布可以测吗?

回复:可以;

8.解离之后的碎片不会再重新组合吗?

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