ADC采样电池电压

文章目录

    • ADC的基本了解
    • ADC原理
    • 逐次型ADC转换原理
    • 电阻分压电路
    • Cube配置外设
    • ADC内部电压的使用
    • ADC采样相关函数
    • 代码编写
    • 最终编写的代码
    • 参考资料

ADC的基本了解

  • ADC,即模数转换器

  • 在单片机中的传输信号为数字信号,通过离散的高低电平表示数字逻辑1和0,但是日常生活中我们常见的信号为模拟信号,即连续变化的信号,但是我们可以把这些信号转换为电信号,再通过ADC将模拟信号转化为数字信号进行处理

ADC原理

  • 一般工作流程为:采样,比较,转换

    • 采样:指采集某一时刻的模拟电压
    • 比较:指将采样的电压在比较电路中进行比较
    • 转换:指将比较电路中结果转换成数字量
  • STM32F4采用12位逐次逼近型ADC(SAR-ADC)

    首先会对模拟信号进行采样,采样值为Vin

    然后进行比较该3位ADC有3种比较过程,如下图
    在这里插入图片描述

    该图表示,对不同位数赋予不同的权值

    • 与1/2Vref进行比较,Vin大于1/2Vref时,将第一位赋值为1
    • 与3/4Vref进行比较,Vin小于3/4Vref时,将第二位赋值为0
    • 与5/8Vref进行比较,Vin小于5/8Vref时,将第三位赋值为0
    • 然后将各值按照1/2,1/4,1/8按权进行计算,例如以上比较后输出结果为100,则转换结果为1 * 1/2+0 * 1/4+0 * 1/8=1/2,则最终转换结果为1/2Vref.
      在这里插入图片描述

STM32最高支持12位ADC,一般ADC的位数越多则转换精度越高,但与此同时转换的速度也会变慢

STM32内部有一个校准电压VREFINT,电压为1.2V,当供电电压不为3.3V时可以使用内部的vrefint通道采集1.2V电压作为Vref,以提高精度(STM32的校准电压Vrefint在ADC1中)。

逐次型ADC转换原理

在这里插入图片描述

整个电路由比较器,D/A转换器,缓冲寄存器和若干控制逻辑电路构成

  • 比较器:用于输入电压值与D/A转换器输出电压进行比较,当输入电压大于该转换器电压时输出1,反之输出0
  • D/A转换器:ADC的逆向过程,将缓冲寄存器的记录数字量转换成模拟量
  • 缓冲寄存器:记录当前转换的数字量

转换的过程如下:

  1. 将缓冲寄存器清零
  2. 将逐次逼近寄存器最高位置1
  3. 将数字值传入D/A转换器,经D/A转换后的模拟量传入比较器,为V0
  4. V0与比较器的待转换的模拟量V1比较,若V0<V1,该位保留,否则清0
  5. 再置寄存器次高位为1,将寄存器中新的数字量送D/A转换器
  6. 输出的V0再与V1进行比较,若若V0<V1,该位保留,否则清0
  7. 一直循环该过程,直至寄存器最低位,得到数字量的输出

电阻分压电路

由于电池提供的电源是24V的高电压,但是单片机引脚的耐压只有0-3.3V所以需要通过分压电路来进行处理

在这里插入图片描述

首先,利用200KΩ和22KΩ的分压电路将24V电压进行分压

分压后的电压送至次级电路

在次级电路中,通过100nF的电容进行滤波,使输出的电压更加稳定

接着用二极管保护电路将电压限制在0-3.3V(当电压大于3.3V时,二极管正向导通,电压被限制在3.3V;当电压小于0V时,二极管正向导通,电压被限制在0V)

Cube配置外设

在原理图中找到ADC对应的引脚

在这里插入图片描述

可以看到该ADC对应PF10引脚,使用ADC3的通道8

在Cube中对ADC1和ADC3进行如下配置

在这里插入图片描述

在这里插入图片描述

在这里插入图片描述

ADC1用于内部1.2V的Vrefint通道读取

ADC3用于电池电压ADC3通道8的读取

在ADC_Settings中对ADC1和ADC3都进行如下配置
在这里插入图片描述

在这里插入图片描述

这样就配置好了Cube

ADC内部电压的使用

由于外部供电电压不一定为 3.3V

为了在这种情况提高ADC精度,我们需要使用单片机内部的参照电压

使用ADC采样该电压来提高ADC的精度

ADC内部参照电压VREFINT为1.2V

将采样内部参照电压1.2V的ADC值和Vref的加权值进行比较,进而得到ADC的输出值

STM32的ADC采用Vcc作为Vref,但为了防止Vcc存在波动较大导致Vref不稳定,进而导致采样值的比较结果不准确,STM32可以通过内部已有的参照电压VREFINT来进行校准

接着以VREFINT为参照来比较ADC的采样值,从而获得比较高的精度

即可以通过一个函数对1.2V的电压进行多次采样,并计算其平均值,然后将其与ADC采样的数据进行比较得到单位数字电压的模拟电压值voltage_vrefint_proportion,设采样得到的数字值为average_adc,公式如下
在这里插入图片描述

ADC采样相关函数

  1. HAL_ADC_ConfigChannel()

    HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_ConfigChannel(ADC_HandleTypeDef* hadc, ADC_ChannelConfTypeDef* sConfig)
    

    作用:设置ADC通道的各个属性值,包括转换通道,序列排序,采样时间等

    返回值:为HAL_StatusTypeDef类型,即表示状态,如成功则返回HAL_OK

    参数:a. TIM_HandleTypeDef * hadc,即输入&hadc1等

    ​ b.ADC_ChannelConfTypeDef* sConfig,即ADC的参数设置结构体需要先对sConfig结构体进行赋值

在这里插入图片描述

  1. HAL_ADC_Start()

    HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_Start(ADC_HandleTypeDef* hadc)
    

    作用:开启ADC的采样

    返回值:同样是HAL_StatusTypeDef类型

    参数:ADC_HandleTypeDef* hadc,即&hadc1等

  2. HAL_ADC_PollForConversion()

    HAL_StatusTypeDef HAL_ADC_PollForConversion(ADC_HandleTypeDef* hadc, uint32_t Timeout)
    

    作用:等待ADC转换结束

    返回值:同样是HAL_StatusTypeDef类型

    参数:1.ADC_HandleTypeDef* hadc;2.uint32_t Timeout,即等待的最大时间

在这里插入图片描述

  1. HAL_ADC_GetValue()

    uint32_t HAL_ADC_GetValue(ADC_HandleTypeDef* hadc)
    

    作用:获取ADC值

    返回值:HAL_StatusTypeDef类型

    参数:TIM_HandleTypeDef* hadc类型

在这里插入图片描述

代码编写

程序流程如下:

在这里插入图片描述

获得基准电压值

首先要对内部电压VREFINT进行采样,并将其作为校准值

通过init_vrefint_reciprocal函数执行以上过程

void init_vrefint_reciprocal(void) 
{
    uint8_t i = 0; 
    uint32_t total_adc = 0; 
    for(i = 0; i < 200; i++) //对电压VREFINT进行200次采样
    { 
        total_adc += adcx_get_chx_value(&hadc1, ADC_CHANNEL_VREFINT);
    }
    voltage_vrefint_proportion = 200 * 1.2f / total_adc;//使VREFINT的电压值1.2V除以采样得到的均值,后面ADC采样到的电压值与这个voltage_vrefint_proportion相乘就可以计算出内部参考电压做过校准的ADC值
}

获得电池电压

然后对ADC的电压值进行采样,再将该采样值与voltage_vrefint_proportion(模拟电压值)相乘得到ADC的采样值

得到ADC采样值后,我们可以根据这个值反算出电压的值,分压的电压阻值为200KΩ,22KΩ,则(22K Ω + 200K Ω) / 22K Ω = 10.09,把采样值乘以该值后所得即为电池电压值

该求电压的代码实现如下:

fp32 get_battery_voltage(void)
{ 
    fp32 voltage; 
    uint16_t adcx = 0; 
    adcx = adcx_get_chx_value(&hadc3, ADC_CHANNEL_8);
    //(22KΩ+200KΩ)/22KΩ=10.090909090909090909090909090909 
    voltage = (fp32)adcx * voltage_vrefint_proportion * 10.090909090909090909090909090909f; 
    return voltage;
}

获取温度

通过ADC获得板载温度传感器的温度值

先经过ADC值进行采样

然后将采样结果通过公式计算出温度值

temperate = (adc - 0.76f) * 400.0f + 25.0f

fp32 get_temprate(void)
{ 
    uint16_t adcx = 0;
    fp32 temperate; 
    adcx = adcx_get_chx_value(&hadc1, ADC_CHANNEL_TEMPSENSOR);//先进行ADC采样 
    temperate = (fp32)adcx * voltage_vrefint_proportion;
    temperate = (temperate - 0.76f) * 400.0f + 25.0f; //使用公式计算出温度值 
    return temperate; 
}

最终编写的代码

/* USER CODE BEGIN PV */
float Batvalt=0;//电池电压
float Vrefint=0;//单位数字电压的模拟电压值
float Temperate=0;//板载温度传感器的温度值
/* USER CODE END PV */
  /* USER CODE BEGIN WHILE */
  while (1)
  {
    /* USER CODE END WHILE */

    /* USER CODE BEGIN 3 */
    HAL_ADC_Start(&hadc1);//启动ADC1采样
    while(!HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1,1));//等待ADC1进行1s的转换
    /*当该函数成功运行后输出成功的状态(1)
    故我们这里需要取非(“!”),即让该函数成功运行后就结束循环*/
    Vrefint=1.2/HAL_ADC_GetValue(&hadc1);
    /*HAL_ADC_GetValue(&hadc1),获取内部电压的采样值
      Vrefint,单位数字电压的模拟电压值
    */

    HAL_ADC_Start(&hadc3);//启动ADC3采样
    while(!HAL_ADC_PollForConversion(&hadc3,1));//等待ADC3进行1s的转换
    Batvalt=HAL_ADC_GetValue(&hadc3)*Vrefint*10.090909090909090909090909090909f;
    //HAL_ADC_GetValue(&hadc3),即获取ADC3的采样值
    //Vrefint,内部电压的基准值(单位数字电压的模拟电压值)
    //10.090909090909090909090909090909f,由(22KΩ+200KΩ)/22KΩ计算所得,分压比
  
    HAL_ADC_Start(&hadc1);//启动ADC1采样
    while(!HAL_ADC_PollForConversion(&hadc1,1));//等待ADC1进行1s的转换
    Temperate=(HAL_ADC_GetValue(&hadc1)-0.76f)*400.0f+25.0f;
    /*HAL_ADC_GetValue(&hadc1),获取内部电压的采样值
      根据公式计算出板载温度传感器的温度值
    */ 
  }
  /* USER CODE END 3 */

结果如图所示:

在这里插入图片描述

参考资料

从零开始制作RoboMaster步兵机器人-11.ADC采样电池电压
ADC数模转换
《RoboMaster开发板 C 型嵌入式软件教程文档》
《Description of STM32F4 HAL and low-layer drivers》

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要优化单片机电量采集上下波动的问题,可以考虑以下几个方面的优化: 1. 电源稳定性:确保单片机供电电源的稳定性和纹波值符合要求。使用稳定的电源可以减少供电对电量采集的影响。 2. 电源滤波:在单片机的电源输入引脚处添加合适的滤波电路,可以减小电源中的噪声干扰,提高电量采集的精确度。 3. ADC参考电压:如果单片机使用内部ADC进行电量采集,确保ADC参考电压的稳定性和准确性。可以通过使用外部参考电压源或精密稳压芯片来提供稳定的参考电压。 4. ADC采样率:根据实际需求,选择合适的ADC采样率。过高的采样率可能会增加噪声和功耗,而过低的采样率可能无法准确捕捉到电量变化。需要根据具体情况进行权衡。 5. 滤波算法:使用软件滤波算法对采集的原始数据进行滤波处理,平滑波动,并提取出准确的电量信息。常见的滤波算法包括移动平均、中值滤波、卡尔曼滤波等。 6. 电量校准:通过对已知电量的参考电池进行校准,或者使用更高精度的测量设备进行验证,对单片机的电量采集进行校准,提高测量的准确性。 7. 优化电池使用:合理使用电池,避免过度放电或充电,避免电池老化过快。同时,确保电池单片机之间的连接良好,避免因连接问题引起的波动。 需要根据具体情况进行优化,可以逐步尝试上述方法,并结合实际情况进行调整。希望对你有所帮助!如有更多问题,请随时提问。

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