高分辨率ADC内部噪声详解

1 简介  

        任何信号链设计的基本挑战之一是确保系统本底噪声足够低,以便ADC解析感兴趣的信号。无论设计师如何努力最大限度地降低功耗、减少电路板空间或降低成本,大于输入信号的噪声水平都会使任何设计变得毫无用处。因此,所有模拟设计师都必须了解信号链噪声、其对模数转换的影响以及如何将其影响降至最低。

        本文将讨论的精度(噪声),而不是准确性。虽然这两个术语经常互换使用,但它们指的是信号链设计的不同方面。在设计高性能数据采集系统时,除了尽量减少噪声之外,还需考虑不准确引起的误差,例如偏移、增益误差、积分非线性(INL)和漂移。

  1. 图1 表示测量数据精密度高,但准确度较差;
  2. 图2  表示测量数据的准确度高,但精密度差;
  3. 图3 表示测量数据精密度和准确度都好,即精确度高。 

         噪声是任何不需要的信号(通常是随机的),它添加到所需的信号中,导致偏离其原始值。噪声是所有电气系统固有的,因此不存在“无噪声”电路。如下图所示:过滤噪声的图像与未过滤噪声的图像对比。

  2 信号链噪声类型和源    

         电子电路中,噪声有多种形式,包括:

  • 宽度(热、约翰逊)噪声,它是由电导体内电荷的物理运动引起的与温度相关的噪声;
  • 1/f(粉红色、闪烁)噪声,是功率摸底与频率成反比的低频噪声
  • 爆米花噪声,这种噪声本质是低频的,由设备缺陷引起,使其具有随机性和数学上不可预测性。

        以上噪声可能通过多种来源进入信号链,包括:

  • ADC内部的热噪声和量化噪声的组合
  • 内部或外部放大器,会产生出现在ADC输出代码中的宽带噪声和1/f噪声
  • 内部或外部基准电压源,也会产生出现在ADC输出代码中的宽带噪声和1/f噪声
  • 非理想电源,可能会通过方式耦合进测量信号中
  • 内部或外部时钟会产生抖动,从而导致采样不均匀。这对正弦输入信号来说是一个额外的噪声源,对于高速ADC来说更为重要
  • 印制电路板(PCB)布局不佳,可能会将来自系统其他部分或环境的噪声耦合到敏感的模拟电路中
  • 传感器自身噪声,它可能是高分辨率系统中噪声最大的组件之一

        常见信号链中的噪声源

3 ADC 噪声

        ADC噪声可分为两个主要来源:量化噪声和热噪声。这两个噪声是不相关的,这使得总和平方根(RSS)方法能够确定总ADC噪声NADC Total,公式如下:

N_{ADC,Total} = \sqrt{N_{ADC,Thermal}^{2} + N_{ADC,Quantization}^{2}}

3.1 量化噪声

        理想ADC的传递函数(不受偏移或增益误差影响)如下图所示:

        量化噪声来自将无限数量的模拟电压映射到有限数量的数字代码的过程。因此,任何单个数字输出都可以对应多个模拟输入电压,这些电压可能相差1/2最低有效位(LSB = FSR / 2^N)。

        如果将此LSB误差相对于量化的AC信号进行映射,则会得到下图。注意量化的“阶梯”形数字输出与平滑的正弦模拟输入之间的不用之处,取这两个波形之间的差异并绘制结果,会产生“锯齿”形误差,该误差在±1/2LSB之间变化,并在结果中表现为噪声。

        类似地,对于DC信号,与量化相关的误差在输入信号的±1/2LSB之间变化。然而,由于DC信号没有频率成分,量化“噪声”实际上表现为ADC输出中的偏移误差。 

        ADC的热噪声用户无法降低,因为它是ADC设计的函数:\frac{KT}{C}

        时域中的热噪声,通常具有高斯分布。

        但是ADC的量化噪声是可以改变的,因为其依赖于LSB(高、低分辨率)的大小。 

4 高分辨率与低分辨率ADC

        低分辨率ADC是总噪声更多地依赖于量化噪声的任何设备,例如NADC,Quantization >> NADC,Thermal。相反,高分辨率ADC是总噪声更依赖于热噪声的任何设备,例如NADC,Quantization << NADC,Thermal。低分辨率和高分辨率之间的转换通常发生在16位级别,任何大于16 位的都被认为是高分辨率,而任何小于16位的都被认为是低分辨率。

        为什么要在 16 位级别进行这种区分?让我们查看两个ADC 数据手册以找出答案。下图显示了ADS114S08、16位delta-sigma ADC 及其 24 位对应产品 ADS124S08 的实际噪声表。除了分辨率之外,这些 ADC 是相同的。

        在 16 位 ADS114S08 的噪声表中,无论数据速率如何,所有以输入为参考的噪声电压都是相同的。将其与 24 位 ADS124S08 的输入参考噪声值进行比较,它们都是不同的,并且随着数据速率的提高而提高。

        LSB_{ADS114S08} = \frac{2 * V_{REF}}{2^{N}} = 2 * 2.5 / 2^{16} = 76.3uV

LSB_{ADS124S08} = \frac{2 * V_{REF}}{2^{N}} = 2 * 2.5 / 2^{24} = 0.298 uV

         结合两款ADC的LSB与噪声数据可看到, 低分辨率(16 位ADS114S08)ADC 的噪声性能相当于其 LSB 大小(最大量化噪声)。另一方面,高分辨率(24 位ADS124S08 )ADC 数据手册中报告的噪声显然远大于其 LSB 大小(量化噪声)。在这种情况下,高分辨率 ADC 的量化噪声非常低,占主导因素的是热噪声。两款ADC热噪声和量化噪声量级对比图如下:

        对于量化噪声占主导地位的低分辨率ADC,使用较小的参考电压来减小LSB的,从而降低量化噪声幅度,这有助于降低ADC总噪声。 

        对于热噪声占主导地位的高分辨率ADC,使用更大的参考电压来增加ADC的输入范围(动态范围),同时确保量化噪声水平保持在热噪声以下。假设没有其他系统变化,这种增加的参考电压可实现更好的信噪比。

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