唠唠芯片中的DFT技术
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本专栏开设,目的在于学习和总结一下芯片设计和验证中的关于DFT技术的一些知识点。
那么菜
仗剑天涯,谁来也不怕
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DFT系列文章之 《SCAN技术 scan cell 讲解》
在可测性设计(DFT)技术中,scan的设计是其中非常重要的的一块内容,今天就来介绍一下业界常用的三种scan cell。一般来说,一个scan cell有两个不同的可选择的输入。第一个输入为数据输入(data input),也就是电路的组合逻辑的输入端。而第二个输入是扫描输入(scan input),由上一个scan cell的输出驱动的,从而形成一个或多个移位寄存器链(shift registers),我们把它称为扫描链(scan chain)。原创 2024-02-24 16:21:23 · 1173 阅读 · 0 评论 -
DFT系列文章之 《SCAN技术原理》
原创 2024-02-24 16:07:49 · 369 阅读 · 0 评论 -
DFT系列文章之 《BIST技术》
bist是内建自测试,一般有rambist、flashbist等,它是内部集成专门测试算法,同时还包括测试控制电路,输出结果比较等电路,它是芯片中实际电路;scan是一种结构性测试,它将芯片内部的寄存器替换成专门的寄存器,然后连接成1条链或多条,这种方式只需要在输入端输入pattern,在输出端对比输出即可,它不care芯片功能,可以节省很多测试case开发时间,同时也减少测试时间。另一种比较少见的BIST称为Array BIST,它是MBIST的一种,专门用于嵌入式存储器的自我测试。原创 2024-02-24 15:51:31 · 648 阅读 · 0 评论 -
DFT系列文章之 《DFT基本知识点》
额外的pin会插入或改变原有的逻辑。转载 2024-02-24 14:42:46 · 367 阅读 · 0 评论 -
DFT系列文章之 《DFT Scan chain》
scan DFF 是在原DFF 的输入端增加了一个 MUX,于是多了几个 pin :scan_in,scan_enable,scan_out。简单来讲,scan chain 工作时分为三个步骤: load ····> capture ····> unload。3. 在 SE 有效拉高时,将 input pattern 串行打入scan register。unload 是将scan chain 中的数据串行输出,得到 output pattern。2. 将 scan register 首尾依次串接起来。原创 2024-02-24 10:26:35 · 549 阅读 · 0 评论