关于光源的明场和暗场照明

明场:光源与被测物成一定角度,使得绝大部分的光反射到摄像机,我们称作明场照明[1]。

暗场:光源位置使得大部分的光没有反射到摄像机,仅仅将照射到被测物的特定部分的光反射到摄像机,我们称此种照明为暗场照明[1]。

如下,明场和暗场的示意图[2]。

根据直射、漫射,以及正面背面还可以再分。未完待续。

 

 

[1]《机器视觉算法与应用》第二版

[2]《默然光源选型手册》

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明场检测(Bright-field Inspection)和暗场检测(Dark-field Inspection)是两种常见的光学检测方法,它们在光源和检测方式上存在一些区别。 1. 光源:在明场检测中,光源直接照射到待检测物体上,形成明亮的背景,而缺陷或特定目标物体会表现为较暗的区域。而在暗场检测中,光源以特定的角度和方式照射,使得待检测物体周围形成暗的背景,而只有散射或反射的光线被检测到。 2. 检测原理:在明场检测中,通过对比物体的亮度差异来检测缺陷或目标物体。正常的区域会呈现明亮,而缺陷或特定目标物体会显得较暗。而在暗场检测中,通过检测散射或反射的光线来检测缺陷或目标物体。正常区域不会散射或反射光线,因此呈现暗的背景,而缺陷或目标物体则会散射或反射光线,形成亮的区域。 3. 应用:明场检测通常用于检测表面缺陷、异物、污染等问题,例如检查晶圆表面的划痕、裂纹、杂质等。而暗场检测常用于检测微小的缺陷、细丝、纤维等,例如检查纺织品中的细小纤维或检查金属表面的微小划痕。 4. 适应性:明场检测对于大尺寸的缺陷或目标物体较容易检测,因为它们在明亮的背景中较为显眼。而暗场检测适用于检测微小的缺陷或目标物体,因为它们在暗的背景中更容易被凸显出来。 需要根据具体的应用场景和需求选择适合的检测方法。有时候,明场暗场检测也可以结合使用,以获得更全面和准确的检测结果。
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