聚类效果评估——轮廓系数(Silhouette Coefficient)附Python代码

前言

在机器学习中,无监督学习算法中聚类算法算作相对重要的一部分算法。也常在低资源和无标注的情况下使用。
其中KMeans作为聚类算法中的一种,充当着重要的角色。由于其思想较为简单,易于理解和方便实现。所以经常被用来做数据的处理,在NLP领域常被用于文本聚类以及文本类别挖掘等方向。

但是KMeans算法有一个致命的缺点就是,如何选择K值。K值的选择至关重要,选择的好可以有较好的聚类效果。

通常情况下,K值的选择人们会根据先验的知识给定一个估计的值,或者是利用Canopy算法计算出一个大致的K值。更多的情况下,还是利用后验的方式进行K值的选择。也就是在给定K的范围[a,b]下,对不同的K值分别进行聚类操作,最终利用聚类效果的评价指标,来给出相应的最优聚类结果。这种评价聚类结果效果的指标有:误差平方和(Sum of the Squared Errors, SSE),轮廓系数(Silhouette Coefficient)和CH指标(Calinski-Harabaz)。

是什么?

轮廓系数,是用于评价聚类效果好坏的一种指标。可以理解为描述聚类后各个类别的轮廓清晰度的指标。其包含有两种因素——内聚度和分离度。

内聚度可以理解为反映一个样本点与类内元素的紧密程度。
分离度可以理解为反映一个样本点与类外元素的紧密程度。

为什么?

为什么轮廓系数可以评价聚类效果的好坏?怎样评价效果好坏?

轮廓系数的公式如下:
S ( i ) = b ( i ) − a ( i ) m a x { a ( i ) , b ( i ) } S(i) = \frac{b(i)-a(i)}{max\{a(i), b(i)\}} S(i)=max{ a(i),b(i)}b(i)a(i)

其中, a ( i ) a(i) a(i)代表样本点的内聚度,计算方式如下:
a ( i ) = 1 n − 1 ∑ j ≠ i n d i s t a n c e ( i , j ) a(i) = \frac{1}{n-1}\sum_{j\ne i}^{n}distance(i,j) a

### starRC、LEF 和 DEF 文件的 EDA 工具使用教程 #### 关于 starRC 的使用说明 starRC 是由 Synopsys 开发的一款用于寄生参数提取 (PEX) 的工具,在 detail routing 完成之后被调用,以提供精确的电阻电容延迟分析数据[^2]。该工具能够处理复杂的多层互连结构并支持多种工艺节点。 对于 starRC 的具体操作指南,通常可以从官方文档获取最权威的信息。访问 Synopsys 官方网站的技术资源页面,可以找到最新的产品手册以及应用笔记等资料。此外,还可以通过在线帮助系统获得交互式的指导和支持服务。 #### LEF 和 DEF 文件格式解析及其在 Cadence 中的应用 LEF(Library Exchange Format)和 DEF(Design Exchange Format)是两种广泛应用于集成电路布局布线阶段的标准文件格式之一[^3]。前者主要用于描述标准单元库中的元件几何形状;后者则记录了整个芯片版图的设计信息,包括但不限于各个模块的位置关系、网络连接情况等重要细节。 当涉及到这些文件类型的编辑或读取时,Cadence 提供了一系列强大的平台级解决方案,比如 Virtuoso Layout Editor 就可以直接打开并修改 LEF/DEF 格式的项目工程。为了更好地理解和运用这两种文件格式,建议参阅 Cadence 发布的相关培训材料或是参加其举办的专项课程学习活动。 ```bash # 示例命令:查看 LEF 或 DEF 文件内容 cat my_design.lef cat my_design.def ```
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