标准对比-HTOL

四、高温工作寿命（HTOL）

目前的标准：JEDEC JESD22-A108F-2017、GJB548B-2015 方法1015.1、MIL-STD-883K-2016 Method1015.12。

1. 试验目的

标准	试验目的	备注
JESD22-A108F-2017	确定偏置条件和温度对于固态器件随时间的影响。试验可以加速地模拟器件的运行状态，主要用于器件的可靠性测试。	本实验在较短时间内对器件施加高温偏置，通常也被称为老化或老炼。
MIL-STD-883K-2016 Method1015.12	试验目的是筛选和剔除那些勉强合格的器件，这些器件随着时间和应力变化而产生的失效。
GJB548B-2015 方法1015.1	试验目的是筛选和剔除那些勉强合格的器件，这些器件随着时间和应力变化而产生的失效。
AEC-Q100	参照JESD220-A108F-2017

注：

1. 四种标准的目的基本一致。

2. 试验条件

标准	试验条件			备注
		电压（V）	时间（h）
JESD22-A108F-2017	除非特殊说明，否则采用额定工作电压	根据有关规定进行	温度： 一般为125℃，温度可增高到250℃，但不要超过额定电压	。
MIL-STD-883K-2016  Method1015.12	A：稳态反向偏置	S级最少时间有240h到120h共6个级别；B级最少时间352h到12h共10个级别； K级最少时间从700h到320h共6个级别。	S级最低温度从125℃到150℃共6个级别；B级别最低温度从100℃到250℃；K级最低温度从100℃到125℃。	电压大小全部为额定电压
	B：稳态正向偏置
	C：稳态功率反向偏置
	D：并联励磁
	E：环形振荡器
	F：温度加速试验
GJB548B-2015 方法1015.1	除非特殊说明，否则采用额定工作电压	S级最少时间有240h到120h共6个级别；B级最少时间160h到12h共10个级别；H级最少时间352h到80h共11级别；K级最少时间从700h到320h共6个级别。	S级最低温度从125℃到150℃共6个级别；B级别最低温度从125℃到250℃；H级最低温度从100℃到150℃；K级最低温度从100℃到125℃。
AEC-Q100	1. 对于非易失性存储器样品，在HTOL之前进行预处理： 等级0：150℃，1000h 等级1：125℃，1000h 等级2：105℃，1000h 等级3：85℃，1000h 2. 各等级温度对应的时间是最低要求，通过计算或测量获取HTOL的Tj（结温）； 3. 当进行HTOL的器件Tj大于或等于最高工作温度时的Tj，那么Tj可以代替Ta（环境温度），但是要低于绝对最大Tj； 4. 如果Tj被用来作为HTOL的条件，在Ta和1000h条件下的器件需要使用0.7ev或其他合理值来显示活化能； 5. Vcc(max)需要保证交直流参数。

注：

1. 试验条件上，MIL-STD和GJB相比，GJB有H级的分类，MIL-STD没有H级分类，但是B级相对GJB范围更广。

3. 试验方法

标准	试验方法	备注
JESD22-A108F-2017	1. 应力持续时间应符合要求，在必要时进行测量； 2. 如果制造商提供了验证数据，不需要在偏置下进行冷却。中断偏置1min，不应认为消除了偏置。	1. 测量所用时间不应纳入器件试验时间； 2. 偏置指电源对引脚施加的电压。
MIL-STD-883K-2016 Method1015.12	1. 测试由供应商自行决定，一般在老化结束96h内进行； 2. 在消除偏置之前，器件在室温下冷却到稳定状态的10℃以内。	如果应力消失，则试验时间延长。
GJB548B-2015 方法1015.1
AEC-Q100	可参照JESD22-A108F-2017

注：

1. 四种标准都保证了器件高温工作时间的完整性。

4. 失效判据

标准	失效判据	备注
JESD22-A108F-2017	如果器件不符合采购文件要求，则认为失效。
MIL-STD-883K-2016 Method1015.12	按有关规定进行
GJB548B-2015 方法1015.1	按有关规定进行
AEC-Q100	可参照JESD22-A108F-2017

注：

1. 四种标准的失效判据都根据相应的标准执行。