ENJ2005-B半导体分立器件测试系统在中电某研究所正式上线运行

2020年8月上旬，我公司自主研发生产的半导体分立器件测试系统ENJ2005-B在中电某研究所正式上线运行。该设备测试18类器件，包括二极管，晶体管、J型场效应管，MOS场效应管、可控硅、IGBT、光电耦合、稳压/齐纳二极管、三端稳压器、光电开关、光电逻辑等。
ENJ2005-B该测试系统具有以下特征：
测试范围广（18类器件，包括二极管，晶体管、J型场效应管，MOS场效应管、可控硅、IGBT、光电耦合、稳压/齐纳二极管、三端稳压器、光电开关、光电逻辑等）
升级扩展性强，支持电压电流阶梯升级至2000V，1250A
采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定300uS
被测器件引脚接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试，确保被测器件不受损坏
真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导，其结果与器件实际偏差很大）
系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排除故障
二极管极性自动判断功能，无需人工操作
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