ENJ2005-B半导体分立器件测试系统

1系统概述：

设备扩展性强，通过选件可以提高电流和测试范围。支持电流阶梯升级至1250A。采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300uS。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。被测器件引脚接触自动判断功能。系统采用带有开尔文感应结构的测试工装，自动补偿由于系统内部及测试电
缆长度引起的压降，保证测试结果准确可靠。
面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的连接使用。
The device has strong expansibility, and the range of current and test can be improved by selecting components. Support current step upgradding to 1250A.
Using pulse test solution, and the pulse width is 300us according to the standard of the US Army. Enter test condition of the device under PC window prompt. C lick to complete the test task. The system supports Automatic judging function of lead leg contact of the device under test. The system adopts Kelvin induction structure,and automatically compensates a